[发明专利]测试装置及采用该测试装置的测试方法

权利要求书

1.一种测试装置，其特征在于，包括：

用于固定待测基板的第一固定结构，其中所述待测基板上布置有第一触控线；

用于固定一测试配合面板的第二固定结构，其中所述测试配合面板上布置有第二触控线；通过所述第一固定结构和所述第二固定结构，所述待测基板与所述测试配合面板相对合，所述第一触控线与所述第二触控线形成触控模组；

用于承载一转接柔性线路板的第三固定结构；

信号输入结构，用于通过所述转接柔性线路板与所述测试配合面板的线路板和所述第一触控线的其中一个电连接，并输入触发数据信号；

感应信号采集结构，用于通过所述转接柔性线路板与所述测试配合面板的线路板和所述第一触控线中的其中另一个电连接，获取电连接的所述第一触控线或所述测试配合面板上的所述第二触控线上的触控感应信号；

所述第二固定结构可翻转的与所述第一固定结构连接，所述第二固定结构包括相对于所述第一固定结构翻转打开、使所述测试配合面板与所述待测基板之间远离的状态以及相对于所述第一固定结构扣合、使所述待测基板与所述测试配合面板相对合的状态。

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第一固定结构包括一水平承载面，所述水平承载面上设置有用于水平地定位放置所述待测基板的多个定位点。

3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述转接柔性线路板包括固定的板体部分和可移动地第一接头，所述第一接头能够在与所述第一触控线相连接的状态和脱离连接的状态之间动作。

4.如权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述转接柔性线路板的所述板体部分上还设置有：触控芯片、用于与所述测试配合面板的线路板连接的第二接头、用于与所述信号输入结构连接的第三接头、用于与所述感应信号采集结构连接的第四接头，其中所述触控芯片分别与所述第一接头、所述第二接头和所述第四接头连接，所述第二接头与所述第三接头连接。

5.如权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述第三固定结构包括固定结构部分和设置于所述固定结构部分上、能够相对于所述固定结构部分相对移动的移动结构部分；其中所述转接柔性线路板的所述板体部分水平地设置于所述固定结构部分上，所述移动结构部分上设置有所述第一接头，通过所述移动结构部分相对于所述固定结构部分移动，使得所述第一接头与所述第一触控线相连接或者脱离连接。

6.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述第三固定结构还包括驱动结构部分，设置于所述固定结构部分上，且与所述移动结构部分连接，用于驱动所述移动结构部分移动，使所述第一接头在与所述第一触控线相连接的状态和脱离连接的状态之间动作。

7.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述固定结构部分上设置有竖直的滑轨，所述移动结构部分上设置有与所述滑轨配合的滑槽，通过所述滑槽与所述滑轨的配合，所述移动结构部分能够相对于所述固定结构部分上下移动。

8.如权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述驱动结构部分包括压杆和与所述压杆连接的传动结构，所述传动结构与所述移动结构部分连接，通过所述压杆带动所述传动结构动作，使得所述移动结构部分相对于所述固定结构部分移动。

9.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述待测基板为一第一彩膜基板，所述第一彩膜基板上布置有所述第一触控线；所述测试配合面板包括一阵列基板，所述阵列基板上的公共电极线形成为所述第二触控线。

10.如权利要求9所述的测试装置，其特征在于，所述测试配合面板还包括与所述阵列基板相组合的第二彩膜基板。

11.如权利要求9所述的测试装置，其特征在于，所述测试配合面板还包括与所述阵列基板相连接的线路板和设置于所述线路板上的显示芯片。

12.一种采用权利要求1至11任一项所述测试装置的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：

将所述待测基板固定于所述第一固定结构上；

将所述测试配合面板固定于所述第二固定结构上，使所述第二固定结构相对于所述第一固定结构翻转，所述待测基板与所述测试配合面板相对位对合；

使所述信号输入结构、所述感应信号采集结构分别与所述转接柔性线路板电连接；

使所述转接柔性线路板分别与所述待测基板和所述测试配合面板相连接；

使所述信号输入结构向所述测试配合面板和所述待测基板中的其中一个输入触发数据信号，使得在所述测试配合面板和所述待测基板上的其中一个接收到触发数据信号后，在所述触发数据信号的作用下，所述感应信号采集结构采集到所述测试配合面板和所述待测基板上的其中另一个上的触控感应信号。