[发明专利]测试装置及采用该测试装置的测试方法

说明书

本发明提供一种测试装置及采用该测试装置的测试方法。该测试装置包括：用于固定待测基板的第一固定结构，待测基板上布置有第一触控线；用于固定测试配合面板的第二固定结构，测试配合面板上布置有第二触控线；第一触控线与第二触控线形成触控模组；用于承载一转接柔性线路板的第三固定结构；信号输入结构，用于通过转接柔性线路板与测试配合面板的线路板和第一触控线的其中一个电连接，并输入触发数据信号；感应信号采集结构，用于获取第一触控线或第二触控线上的触控感应信号。采用该测试装置通过与测试配合面板组合，利用转换柔性线路板，能够用于该待测试基板上的触控线的线路检测，实现对触控线线路不良的有效检测。

技术领域

本发明涉及显示器制造技术领域，尤其是指一种测试装置及采用该测试装置的测试方法。

背景技术

传统的触控显示装置中，触控感应Touch Sensor结构设计在触摸屏盖板(如OGS产品)和显示面板的彩膜表面(如On-Cell产品)，相对应的触控感应的Tx(电容发射端)和Rx(电容接收端)由同一柔性电路板FPC线路连接至触控芯片(Touch IC)，因此触控功能检测与产品显示信号无耦合现象，可以通过普通治具直接进行触控感应检测。

然而对于混合触屏(Hybrid In-cell，HIC)显示产品来说，如图1所示，显示面板的彩膜CF基板1表面设置有触控感应的Rx，Tx是与阵列TFT基板2显示线路中的Vcom信号线进行复用，对于Hybrid In-cell成品结构来说，如图1所示，CF基板1上的触控柔性线路板(Touch FPC)3与TFT基板2上的主柔性线路板4电连接，主柔性线路板4上设置有显示芯片，触控柔性线路板3上设置有触控芯片，分别用于图像显示和触控感应。

然而在显示器制程中的CELL阶段，在将CF基板1与TFT基板2组装之前，由于无法通过显示芯片发射Tx信号，因此无法通过传统方式进行触控感应功能检测。

发明内容

本发明技术方案的目的是提供一种测试装置及采用该测试装置的测试方法，能够实现对显示产品在未完成组装阶段前对触控线路的触控感应检测。

本发明提供一种测试装置，包括：

用于固定待测基板的第一固定结构，其中所述待测基板上布置有第一触控线；

用于固定一测试配合面板的第二固定结构，其中所述测试配合面板上布置有第二触控线；通过所述第一固定结构和所述第二固定结构，所述待测基板与所述测试配合面板相对合，所述第一触控线与所述第二触控线形成触控模组；

用于承载一转接柔性线路板的第三固定结构；

信号输入结构，用于通过所述转接柔性线路板与所述测试配合面板的线路板和所述第一触控线的其中一个电连接，并输入触发数据信号；

感应信号采集结构，用于通过所述转接柔性线路板与所述测试配合面板的线路板和所述第一触控线中的其中另一个电连接，获取电连接的所述第一触控线或所述测试配合面板上的所述第二触控线上的触控感应信号。

优选地，上述所述的测试装置，其中，所述第一固定结构包括一水平承载面，所述水平承载面上设置有用于水平地定位放置所述待测基板的多个定位点。

优选地，上述所述的测试装置，其中，所述第二固定结构可翻转的与所述第一固定结构连接，所述第二固定结构包括相对于所述第一固定结构翻转打开、使所述测试配合面板与所述待测基板之间远离的状态以及相对于所述第一固定结构扣合、使所述待测基板与所述测试配合面板相对合的状态。

优选地，上述所述的测试装置，其中，所述转接柔性线路板包括固定的板体部分和可移动地第一接头，所述第一接头能够在与所述第一触控线相连接的状态和脱离连接的状态之间动作。