[发明专利]用于超大口径面形检测的悬挂式摆臂轮廓仪

说明书

技术领域

本发明属于光学元件面形检测领域，具体涉及一种用于超大口径面形检测的悬挂式摆臂轮廓仪。

背景技术

超大口径的光学元件的加工一般分为铣磨、研磨、抛光三个阶段；铣磨阶段，检测精度由铣磨机床控制；抛光阶段，面形精度由干涉仪检测监控；研磨阶段，由于面形反射率较低且面形误差较大无法采用干涉检测，通常采用轮廓检测。由于抛光阶段的材料去除效率低于研磨阶段，为了提高反射镜的加工效率，提高研磨精度、缩短抛光时间是提高加工效率的有效手段；然而，限制研磨精度的因素主要来自于研磨阶段的面形检测精度，因此需要一种有效指导超大口径反射镜研磨阶段面形加工的高精度面形检测手段。

传统的中心口径光学元件轮廓检测阶段通常采用三坐标式轮廓仪进行检测。而对于超大口径光学元件轮廓检测，三坐标轮廓仪主要存在以下不足：

1)三坐标轮廓仪的检测精度受机械精度的影响与其检测量程成反比关系，随着光学元件的口径增大，检测精度大大下降；对于1m量级的反射镜，三坐标轮廓仪的检测精度约为1umrms，此检测能力与干涉检测量程勉强能衔接上，而对于更大口径的反射镜，三坐标轮廓仪检测精度已不能与干涉检测有效衔接；

2)三坐标式轮廓仪采用接触式采样方式，对于大口径光学元件检测，尤其消耗时间，单次检测1m量级反射镜，耗时约4h；而且采样密度受限，对于加工较为关心的镜面边缘面形信息不能很好的反映；

3)三坐标式轮廓仪为非在位检测，反射镜每次检测需要从加工位转移至三坐标轮廓仪上，对于大口径光学元件，不但增加了时间成本和人力成本，还存在转移过程中的镜面变形、磕碰等风险。

美国Arizona大学光学加工中心的PengSu，JamesH.Burge等人采用摆臂轮廓仪实现凸非球面的面形检测，主要检测案例见于2009年发表于SPIE(Proc.SPIE7426,OpticalManufacturingandTestingVIII,74260J(August21,2009)；doi:10.1117/12.828493)的文章《SwingarmopticalCMMforaspherics》(《用于非球面检测的摆臂式光学三坐标轮廓仪》)，但是其主要检测策略是去除面形检测结果的低阶项误差，约前40项Zernike拟合项，与干涉仪检测结果对比，用于抛光阶段面形高阶项误差的测量。然而，本发明的主要目的是基于摆臂轮廓仪的检测原理，实现包括低阶项在内的面形轮廓检测，用于指导反射镜的研磨阶段的面形加工。

摆臂式轮廓仪存在的主要不足是受气浮转台震动、测量臂刚性等因素的影响，面形的低阶项误差检测可能不准确。

目前国内外报道的摆臂轮廓仪属立柱式，如图1所示，这意味着测量臂长度至少应大于反射镜镜面半径。这增加了摆臂气浮转台的负担且测量臂的长度会放大摆臂气浮转台的振颤误差，进而影响面形检测精度。参见附图2，为对应的立柱式摆臂轮廓仪的面形测量点分布。

发明内容

本发明的目的在于提出一种用于超大口径面形检测的悬挂式摆臂轮廓仪，解决现有技术存在的摆臂轮廓仪测量大口径光学元件面形时臂长过长导致检测精度下降的问题。

为实现上述目的，本发明的用于超大口径面形检测的悬挂式摆臂轮廓仪包括连接件A、气浮转台、连接件B、测量臂、配重件、连接件C和位移传感器；

所述的气浮转台通过连接件A与悬挂装置悬挂连接；所述测量臂通过连接件B与气浮转台固定；所述的测量臂的一端通过连接件C固定位移传感器的测头；另一端设置有配重件；

所述气浮转台的转轴随悬挂装置倾斜，通过待测反射镜最接近球球心。

所述的连接件B包括上部件和两个松紧可调的卡扣：上部件与气浮转台固定，两个松紧可调的卡扣固定测量臂。

所述测量臂的长度不限，测量臂在连接件B上的安装位置可调。

在同一位置，所述测量臂可携带位移传感器绕气浮转台旋转至少一圈。

所述测量臂携带位移传感器绕气浮转台旋转一圈在镜面上扫过的弧线最大为2π弧度。

本发明的工作原理为：本发明的用于超大口径面形检测的悬挂式摆臂轮廓仪是基于摆臂轮廓仪工作原理，采用悬挂摆臂转台的方式，实现短测量臂测量超大口径反射镜面形。

摆臂轮廓检测系统由一台倾斜放置的高精度气浮转台、刚性测量臂和位于测量臂末端的高精度非接触式位移传感器组成；待测反射镜放置在另一个大转台上，反射镜中心位于大转台旋转轴上。气浮转台相对大转台旋转轴倾斜放置，倾斜角为θ，气浮转台转轴通过反射镜最接近球球心O₁，倾角θ满足：