[发明专利]一种轻量级智能分析方法及装置有效
申请号: | 201510590929.9 | 申请日: | 2015-09-16 |
公开(公告)号: | CN105187799B | 公开(公告)日: | 2018-09-14 |
发明(设计)人: | 陈尚武 | 申请(专利权)人: | 浙江宇视科技有限公司 |
主分类号: | H04N7/18 | 分类号: | H04N7/18;G06T7/20 |
代理公司: | 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人: | 诸佩艳 |
地址: | 310051 浙江省杭州市滨江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 轻量级 智能 分析 方法 装置 | ||
1.一种轻量级智能分析方法,用于根据智能分析策略对视频图像序列进行智能分析,其特征在于,所述智能分析方法包括:
基于智能分析策略生成检测序列,该检测序列包含k个检测点,每个检测点对应有各自的检测位图、检测次数和容错次数,k为大于等于1的正整数;
获取为所述视频图像序列生成的对应移动信息位图序列,按照检测序列所包含的检测点的顺序,采用检测点对应的检测位图依次对移动信息位图序列进行检测,当检测序列包含的所有检测点均检测满足各自的检测次数和容错次数时,记录一个可疑事件到检测结果集;
所述移动信息位图序列包括视频图像序列中各帧视频图像所对应的移动信息位图,该移动信息位图以M*N矩阵表示已进行M*N区域划分的视频图像中各区域的图像变化情况,矩阵中的每个矩阵格的值使用一位比特表示,其中1表示该矩阵格所对应的区域存在图像变化,0表示该矩阵格所对应的区域不存在图像变化;
所述检测位图为对应于移动信息位图的M*N矩阵,检测位图的每一个矩阵格使用一位比特表示,1表示该矩阵格对应的移动信息位图区域需要检测,0表示该矩阵格对应的移动信息位图区域不需要检测;
所述按照检测序列所包含的检测点的顺序,采用检测点对应的检测位图依次对移动信息位图序列进行检测,包括:
将各检测点的检测位图依次与移动信息位图序列中的移动信息位图进行与运算;
当运算结果为非0时,累加运算结果为非0的次数,如果累加的运算结果为非0的次数小于检测次数,则继续与移动信息位图序列中的下一个移动信息位图进行与运算,否则结束本检测点的检测,进入下一个检测点的检测;
当运算结果为0时,累加运算结果为0的次数,如果累加的运算结果为0的次数小于容错次数,则继续与移动信息位图序列中的下一个移动信息位图进行与运算,否则终止本次检测,返回第一个检测点再次进行循环检测。
2.根据权利要求1所述的智能分析方法,其特征在于,所述基于智能分析策略生成检测序列,包括:
根据智能分析策略的判定步骤,确定检测序列对应的检测点;
根据所述判定步骤的判定条件,设置检测点对应的检测位图、检测次数和容错次数。
3.根据权利要求2所述的智能分析方法,其特征在于,所述智能分析策略包括禁区入侵、禁区进入、禁区离开、禁区、双向绊线、单向绊线。
4.一种轻量级智能分析装置,用于根据智能分析策略对视频图像序列进行智能分析,其特征在于,所述智能分析装置包括:
检测序列生成模块,用于基于智能分析策略生成检测序列,该检测序列包含k个检测点,每个检测点对应有各自的检测位图、检测次数和容错次数,k为大于等于1的正整数;
检测模块,用于获取为所述视频图像序列生成的对应移动信息位图序列,按照检测序列所包含的检测点的顺序,采用检测点对应的检测位图依次对移动信息位图序列进行检测,当检测序列包含的所有检测点均检测满足各自的检测次数和容错次数时,记录一个可疑事件到检测结果集;
所述移动信息位图序列包括视频图像序列中各帧视频图像所对应的移动信息位图,该移动信息位图以M*N矩阵表示已进行M*N区域划分的视频图像中各区域的图像变化情况,矩阵中的每个矩阵格的值使用一位比特表示,其中1表示该矩阵格所对应的区域存在图像变化,0表示该矩阵格所对应的区域不存在图像变化;
所述检测位图为对应于移动信息位图的M*N矩阵,检测位图的每一个矩阵格使用一位比特表示,1表示该矩阵格对应的移动信息位图区域需要检测,0表示该矩阵格对应的移动信息位图区域不需要检测;
所述检测模块在按照检测序列所包含的检测点的顺序,采用检测点对应的检测位图依次对移动信息位图序列进行检测时,执行如下操作:
将各检测点的检测位图依次与移动信息位图序列中的移动信息位图进行与运算;
当运算结果为非0时,累加运算结果为非0的次数,如果累加的运算结果为非0的次数小于检测次数,则继续与移动信息位图序列中的下一个移动信息位图进行与运算,否则结束本检测点的检测,进入下一个检测点的检测;
当运算结果为0时,累加运算结果为0的次数,如果累加的运算结果为0的次数小于容错次数,则继续与移动信息位图序列中的下一个移动信息位图进行与运算,否则终止本次检测,返回第一个检测点再次进行循环检测。
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