[发明专利]以闭合电路组检测固态物品损耗程度的方法和装置在审
| 申请号： | 201510597543.0 | 申请日： | 2015-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN105301053A | 公开（公告）日： | 2016-02-03 |
| 发明（设计）人： | 薛骥;薛多多 | 申请（专利权）人： | 薛骥 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00;G01R31/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300381 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 闭合电路 检测 固态 物品 损耗 程度 方法 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种以闭合电路组检测固态物品损耗程度的方法和装置，其特征在于：依据与物品同步损耗闭合电路组损伤状态检测固态物品损耗程度。
2.根据权利要求1所述的以闭合电路组检测固态物品损耗程度的方法和装置，其特征在于：至少一个闭合电路组基准点0和固态物品损耗极限点重合按物品损耗方向与物品复合一体。
3.根据权利要求1所述的以闭合电路组检测固态物品损耗程度的方法和装置，其特征在于：装置中的闭合电路组和数据处理器可做成一体式或分离式；数据处理器可用无线或有线通信方式传出检测数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于薛骥，未经薛骥许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510597543.0/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
