[发明专利]以闭合电路组检测固态物品损耗程度的方法和装置

说明书

技术领域

固态物品损耗程度检测。

背景技术

在实际生产、使用过程中，有各种检测物品、零部件的损耗程度的方法和装置，但未见利用闭合电路组检测固态物品损耗程度的方法和装置。

发明内容

本发明依据与物品同步损耗的闭合电路组损伤状态检测固态物品损耗程度。

工作原理

如图1所示，装置由闭合电路组和数据处理器组成。闭合电路组由若干闭合电路组成，各闭合电路顶端从基准点0由0开始按设定数值间距沿直线依次排列。将适宜的闭合电路组基准点0和固态物品损耗极限点重合按物品损耗方向与物品复合一体；闭合电路组接入具有监测、存储、通信功能的数据处理器；当物品被损耗，闭合电路组沿损耗方向依次被损毁、断路，依据监测的最后被损毁闭合电路顶端数值和闭合电路组总数值比较，可对应检测出物品损耗程度。

有益效果

本发明应用领域广泛，平面、球面、多角度、多端面等固态物品损耗检测都可使用。

附图说明

图1为本发明工作示意图。举例：如图1所示，闭合电路组由1#、2#、3#、4#4个闭合电路组成，各电路顶端间距1，按物品损耗方向与物品复合一体。物品开始使用后，当数据处理器监测到4#闭合电路断路，可判定物品发生了0-25%的损耗；当数据处理器监测到3#闭合电路断路，可判定物品发生了25-50%的损耗；依次类推。闭合电路数量越多，检测损耗精度越高。