[发明专利]一种镀制激光高反膜的方法在审
申请号: | 201510598036.9 | 申请日: | 2015-09-18 |
公开(公告)号: | CN105132871A | 公开(公告)日: | 2015-12-09 |
发明(设计)人: | 惠建平;魏春刚;李永庆 | 申请(专利权)人: | 河北汉光重工有限责任公司 |
主分类号: | C23C14/32 | 分类号: | C23C14/32 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 李微微;仇蕾安 |
地址: | 056028*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 激光 高反膜 方法 | ||
技术领域
本发明涉及真空镀膜技术领域,尤其涉及一种镀制激光高反膜的方法。
背景技术
目前,国际上报道的激光腔镜的最高反射率可以达到99.999%,是采用离子束溅射沉积技术制备的,运用这项技术可以很容易制备出反射率大于99.99%,损耗低于4.0×10-6的全介质反射膜,主要应用于激光陀螺和高功率激光腔镜的研制。但是高的反射率水平并不能直接反应反射镜抗激光损伤的强度,即激光高反射膜的损伤阀值。
发明内容
有鉴于此,本发明提供了一种镀制激光高反膜的方法,激光反射膜的抗损伤阀值和反射率大大提高。
本发明的一种镀制激光高反膜的方法,包括如下步骤:
步骤1、制作混合膜料H,其中混合膜料H选用混合材料TiO2:Ta2O5和Ta2O5:ZrO2中的一种;其中,TiO2:Ta2O5的比例选为9:1、8:2或7:3;Ta2O5:ZrO2的比例选为9:1、8:2或6:4;将SiO2作为膜料L;
步骤2、对镀件进行镀膜,具体为:
0)、将镀件置于真空镀膜机的真空室上部,通过转轴与真空室上壁连接,并可绕转轴转动;离子源设置在镀件的下方,离子源的两侧分别设置环形坩埚和普通坩埚;其中环形坩埚中盛放膜料H,其形状为圆环形凹槽,采用电子枪A产生的电子束对其进行照射;环形坩埚可绕圆环形凹槽的中心轴转动;普通坩埚盛放膜料L,形状为圆形,采用电子枪B产生的电子束对其进行照射;采用膜厚控制仪监测镀件的膜层厚度;
1)、清理真空室,镀件采用超声波清洗;
2)、环形坩埚转速设定为0.5r/min;镀件转速设定为5r/min,对其进行烘烤;
3)、设定镀件的膜系结构,共33层,其中单数层镀制膜料H,双数层镀制膜料L;各膜层厚度均为光学厚度;其中,λ表示镀件镀制完成后的工作波长的中心波长;
4)、开始对真空室抽真空,当真空度到达6.0×10-3Pa后,镀件转速调整到12r/min,离子源的充氧气值为6.0sccm;真空度降至1.0×10-2pa时,离子源的离子束流调节到70mA;
5)、电子枪B的光斑调成圆形光斑,开始蒸镀普通坩埚中的“H”膜料,蒸镀过程采用膜层控制仪实时监控膜层厚度,当膜层厚度到达光学厚度时时,停止蒸镀,此时第1层蒸镀完成;然后,将电子枪A调成“一”字型光斑,并使光斑照射在环形凹槽的膜料L上,同时保证光斑处于环形坩埚的圆形的一条直径上,然后开始蒸镀环形坩埚中的膜料L,蒸镀过程监控膜层厚度,当膜层到达光学厚度时,停止蒸镀,此时第2层蒸镀完成;如此反复以上过程,直至第33层蒸镀完成;
6)、蒸镀完成后,将真空室降到室温后,取出镀件,并对镀件进行烘烤,烘烤温度为300℃,保持8-10h后,室温取出。
述真空镀膜机选用ZZS900型镀膜机。
所述膜厚监测仪型号为INFICON公司的SQC310薄膜镀层控制仪。
较佳的,蒸发速率设置为:膜料H为0.5nm/s,膜料L为0.35nm/s。
较佳的,步骤2)中对镀件(3)的烘烤温度设定为300℃,烘烤时间设定为40min。
本发明具有如下有益效果:
(1)本发明按一定比例混合几种常用高折射率单质薄膜材料,采用混合膜料镀制激光反射膜,使激光反射膜的抗损伤阀值和反射率大大提高。
(2)以该系列混合膜料作为高折射率材料,SiO2作为低折射率膜料镀制的激光反射膜,可使损伤阀值提高15%,吸收减小,机械强度增大,波长无飘移现象。
附图说明
图1为混合膜料折射率色散曲线。
图2为波长1064nm激光反射膜的透过率。
图3为波长632.8nm激光反射膜的透过率。
图4为镀制工艺中工作单元位置关系。
其中,1-真空室,2-转轴,3-镀件,4-膜厚控制仪,5-离子源,6-环形坩埚,7-普通坩埚,8-电子枪A,9-电子枪B,10-氧气口。
具体实施方式
下面结合附图并举实施例,对本发明进行详细描述。
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