[发明专利]一种镀制激光高反膜的方法在审

专利信息
申请号: 201510598036.9 申请日: 2015-09-18
公开(公告)号: CN105132871A 公开(公告)日: 2015-12-09
发明(设计)人: 惠建平;魏春刚;李永庆 申请(专利权)人: 河北汉光重工有限责任公司
主分类号: C23C14/32 分类号: C23C14/32
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 李微微;仇蕾安
地址: 056028*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 激光 高反膜 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及真空镀膜技术领域,尤其涉及一种镀制激光高反膜的方法。

背景技术

目前,国际上报道的激光腔镜的最高反射率可以达到99.999%,是采用离子束溅射沉积技术制备的,运用这项技术可以很容易制备出反射率大于99.99%,损耗低于4.0×10-6的全介质反射膜,主要应用于激光陀螺和高功率激光腔镜的研制。但是高的反射率水平并不能直接反应反射镜抗激光损伤的强度,即激光高反射膜的损伤阀值。

发明内容

有鉴于此,本发明提供了一种镀制激光高反膜的方法,激光反射膜的抗损伤阀值和反射率大大提高。

本发明的一种镀制激光高反膜的方法,包括如下步骤:

步骤1、制作混合膜料H,其中混合膜料H选用混合材料TiO2:Ta2O5和Ta2O5:ZrO2中的一种;其中,TiO2:Ta2O5的比例选为9:1、8:2或7:3;Ta2O5:ZrO2的比例选为9:1、8:2或6:4;将SiO2作为膜料L;

步骤2、对镀件进行镀膜,具体为:

0)、将镀件置于真空镀膜机的真空室上部,通过转轴与真空室上壁连接,并可绕转轴转动;离子源设置在镀件的下方,离子源的两侧分别设置环形坩埚和普通坩埚;其中环形坩埚中盛放膜料H,其形状为圆环形凹槽,采用电子枪A产生的电子束对其进行照射;环形坩埚可绕圆环形凹槽的中心轴转动;普通坩埚盛放膜料L,形状为圆形,采用电子枪B产生的电子束对其进行照射;采用膜厚控制仪监测镀件的膜层厚度;

1)、清理真空室,镀件采用超声波清洗;

2)、环形坩埚转速设定为0.5r/min;镀件转速设定为5r/min,对其进行烘烤;

3)、设定镀件的膜系结构,共33层,其中单数层镀制膜料H,双数层镀制膜料L;各膜层厚度均为光学厚度;其中,λ表示镀件镀制完成后的工作波长的中心波长;

4)、开始对真空室抽真空,当真空度到达6.0×10-3Pa后,镀件转速调整到12r/min,离子源的充氧气值为6.0sccm;真空度降至1.0×10-2pa时,离子源的离子束流调节到70mA;

5)、电子枪B的光斑调成圆形光斑,开始蒸镀普通坩埚中的“H”膜料,蒸镀过程采用膜层控制仪实时监控膜层厚度,当膜层厚度到达光学厚度时时,停止蒸镀,此时第1层蒸镀完成;然后,将电子枪A调成“一”字型光斑,并使光斑照射在环形凹槽的膜料L上,同时保证光斑处于环形坩埚的圆形的一条直径上,然后开始蒸镀环形坩埚中的膜料L,蒸镀过程监控膜层厚度,当膜层到达光学厚度时,停止蒸镀,此时第2层蒸镀完成;如此反复以上过程,直至第33层蒸镀完成;

6)、蒸镀完成后,将真空室降到室温后,取出镀件,并对镀件进行烘烤,烘烤温度为300℃,保持8-10h后,室温取出。

述真空镀膜机选用ZZS900型镀膜机。

所述膜厚监测仪型号为INFICON公司的SQC310薄膜镀层控制仪。

较佳的,蒸发速率设置为:膜料H为0.5nm/s,膜料L为0.35nm/s。

较佳的,步骤2)中对镀件(3)的烘烤温度设定为300℃,烘烤时间设定为40min。

本发明具有如下有益效果:

(1)本发明按一定比例混合几种常用高折射率单质薄膜材料,采用混合膜料镀制激光反射膜,使激光反射膜的抗损伤阀值和反射率大大提高。

(2)以该系列混合膜料作为高折射率材料,SiO2作为低折射率膜料镀制的激光反射膜,可使损伤阀值提高15%,吸收减小,机械强度增大,波长无飘移现象。

附图说明

图1为混合膜料折射率色散曲线。

图2为波长1064nm激光反射膜的透过率。

图3为波长632.8nm激光反射膜的透过率。

图4为镀制工艺中工作单元位置关系。

其中,1-真空室,2-转轴,3-镀件,4-膜厚控制仪,5-离子源,6-环形坩埚,7-普通坩埚,8-电子枪A,9-电子枪B,10-氧气口。

具体实施方式

下面结合附图并举实施例,对本发明进行详细描述。

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