[发明专利]一种带重复性优化装置的双光路分光测色仪和优化方法有效
申请号: | 201510606503.8 | 申请日: | 2015-09-22 |
公开(公告)号: | CN105157842B | 公开(公告)日: | 2017-07-18 |
发明(设计)人: | 袁琨;吴逸萍 | 申请(专利权)人: | 杭州彩谱科技有限公司;中国计量学院 |
主分类号: | G01J3/46 | 分类号: | G01J3/46 |
代理公司: | 杭州浙科专利事务所(普通合伙)33213 | 代理人: | 吴秉中 |
地址: | 310018 浙江省杭州市经济技*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 重复性 优化 装置 双光路 分光 测色仪 方法 | ||
1.一种双光路分光测色仪的重复性优化方法,包括如下步骤:
在开机校准时,进行传感器校准和黑校准:
传感器校准方法:点亮卤钨灯,得到主、辅通道的采样值分别为和;
计算比例系数;
开机黑校准是使用仪器对标准黑腔反射率进行测量,得到主、辅通道的采样值分别为和;
在实际测量时,测量过程分为两个步骤:
步骤1:点亮卤钨灯,对主、辅通道进行校准测试,获得当前仪器两个通道的采样结果;
步骤2:熄灭卤钨灯,点亮氙灯,对被测样品进行测量,获得仪器主、辅通道的采样结果;
对采样数据进行如下修正,
为修正后的主通道采样值,为修正后的辅通道采样值;
取每个波长的最终采样强度为:
通过定标,可将转化为被测样品的反射率数据。
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