[发明专利]一种带重复性优化装置的双光路分光测色仪和优化方法有效

专利信息
申请号: 201510606503.8 申请日: 2015-09-22
公开(公告)号: CN105157842B 公开(公告)日: 2017-07-18
发明(设计)人: 袁琨;吴逸萍 申请(专利权)人: 杭州彩谱科技有限公司;中国计量学院
主分类号: G01J3/46 分类号: G01J3/46
代理公司: 杭州浙科专利事务所(普通合伙)33213 代理人: 吴秉中
地址: 310018 浙江省杭州市经济技*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 重复性 优化 装置 双光路 分光 测色仪 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及双光路分光测色仪领域,具体是一种带重复性优化装置的双光路分光测色仪和优化方法。

背景技术

颜色测量仪器是将颜色这一心理物理量量化的常规测量仪器。颜色测量仪器从测量原理上来分有两种:光电积分式测色仪和分光测色仪。评价颜色测量仪器最关键的两个指标是测量重复性和示值误差。光电积分式测色仪器是在可见光范围内采用单颗硅光电二极管配合滤光片调整仪器的光谱响应,通过积分测量测得样品颜色的三刺激值X、Y、Z。这种技术手段很难达到较低的示值误差。目前主流的颜色测量仪器是分光测色仪,这种方法是通过测量被测样品表面的光谱反射率来计算颜色数据的,可达到较好的测量重复性和较低的示值误差。目前,分光测色仪的测量重复性可达到△E=0.04。目前国外有X’Rite, Datacolor, 美能达等公司推出了成熟的分光测色仪,国内的分光测色仪发展滞后于国外,目前只有杭州彩谱推出了便携式的分光测色产品。

目前,传统技术手段中,可达到分光测色仪器的短期测量重复性△E<0.05,在温度大范围变化时重复性△E<0.13。

发明内容

为了解决现有技术中存在的上述技术问题,本发明提供了一种带重复性优化装置的双光路分光测色仪,被测样品夹持在第一积分球上的反射样品夹持位置,包括第一积分球和第二积分球,光源发出的光从第一积分球侧面的光入射孔入射至积分球内部,在积分球内经充分均匀化;第一积分球上主光路出光孔位置为与被测样品表面法线成-8°角方向在积分球内壁上的投影;在第一积分球内壁上与被测样品表面法线成30°方向处设置辅光路出光孔;在主光路和辅光路之间设有第二积分球。

进一步的,在第一积分球上与被测样品表面法线成8°角方向在积分球内壁上的投影上设置光阱。

进一步的,在第一积分球内设置两个挡板A、B。

进一步的,在主光路出光孔和辅光路出光孔的外侧光路上分别设置透镜组,将入射光线匀化后,聚焦至主分光光路、辅分光光路的入射狭缝处。

进一步的,第二积分球用于对主辅通道的传感器进行校准。

进一步的,所述第二积分球内部左侧开一光源入射孔,照明光源为卤钨灯,光线入射至第二积分球内部,第二积分球内表面涂覆白色漫反射涂料,使入射光线在积分球内部均匀化。

进一步的,所述第二积分球上下两端分别开出射狭缝,狭缝外置凸透镜,对出射光线进行准直,两个出射狭缝的出射光线经透镜准直后,再经过合束镜反射,入射至主、辅分光光路的入射狭缝处。

本发明还提供了一种双光路分光测色仪的重复性优化方法,包括如下步骤:

在开机校准时,进行传感器校准和黑校准:

传感器校准方法:点亮卤钨灯,得到主、辅通道的采样值分别为和;

计算比例系数;

开机黑校准是使用仪器对标准黑腔反射率进行测量,得到主、辅通道的采样值分别为和;

在实际测量时,测量过程分为两个步骤:

步骤1:点亮卤钨灯,对主、辅通道进行校准测试,获得当前仪器两个通道的采样结果;

步骤2:熄灭卤钨灯,点亮氙灯,对被测样品进行测量,获得仪器主、辅通道之间的采样结果;

对采样数据进行如下修正,

为修正后的主通道采样值,为修正后的辅通道采样值;

取每个波长的最终采样强度为:

通过定标,可将转化为被测样品的反射率数据。

本发明的带重复性优化装置的双光路分光测色仪在光路设计中采用双光路结构,采用两个传感器分别测量样品信号和光源信号,通过在光路结构中设置校准光源,解决了由温度变化引起的传感器之间的相应效率一致性问题。经实验,本发明的中推荐的分光测色仪设计方法短期测量重复性△E<0.03,在温度大范围变化时重复性指标没有明显变化,相对于传统技术有显著改善。

附图说明

图1是现有测试仪的双光路结构;

图2是硅光电池器件受温度的影响图;

图3是带重复性优化装置的双光路分光测色仪结构示意图;

图4是第二积分球的结构示意图;

图5是重复性优化前的测量结果图;

图6是重复性优化后的测量结果图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明作进一步说明。

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