[发明专利]一种考虑制造质量偏差损失的产品最优老炼测试时间估算方法

权利要求书

1.一种考虑制造质量偏差损失的产品最优老炼测试时间估算方法，其特征在于：该方法具体步骤如下：

步骤1量化表征质量偏差的Type-I型和Type-II型制造缺陷的两类偏差效应；

步骤2构建致命性Type-I型制造缺陷相关的出厂良品率损失费用模型Y₀；

步骤3量化出厂检测后截尾的新型缺陷尺寸分布s₁(x)；

步骤4确定依照尺寸增长规律的新型尺寸特征分布s₂(x)；

步骤5构建非致命性Type-II型制造缺陷相关的保修费用模型W₀；

步骤6确定依照尺寸增长规律的新型尺寸特征分布s₃(x)；

步骤7构建老炼效应下的老炼费用模型C_b及老炼时长b内的失效费用模型W_b；

步骤8量化老炼试验后截尾的新型缺陷尺寸分布s₄(x)；

步骤9确定依照尺寸增长规律的新型尺寸特征分布s₅(x)；

步骤10构建使用保修期w内的保修费用模型W₁；

步骤11量化老炼测试试验计划下增加的老炼费用Δ₁；

步骤12量化老炼测试环境下减小的质量偏差损失Δ₂；

步骤13建立目标函数g(b)，从经济型角度考虑，通过求解确定最优老炼测试时间；

其中，步骤1中所述的量化表征质量偏差的Type-I型和Type-II型制造缺陷的两类偏差效应，是指以尺寸特征x描述制造缺陷的质量特征时，给定导致产品失效而不合格的制造缺陷关键尺寸阈值x°，尺寸大小各异的制造缺陷存在不同的偏差效应；若存在缺陷尺寸x＞x°，视该类缺陷为Type-I型的大尺寸特征制造缺陷，对应的缺陷效应为：影响器件制造过程良品率水平；若存在缺陷尺寸x≤x°，视该类缺陷为Type-II型的小尺寸特征制造缺陷，对应缺陷效应为：影响器件可靠性水平；质量偏差的成本角度，存在大尺寸特征致命性缺陷的单元被剔除，造成出厂测试相关的良品率损失费用，而存在小尺寸特征非致命性缺陷的单元同样造成隐性的成本，经过缺陷尺寸的增长并集中在早期故障阶段显现，带来特定保修策略下的保修费用；

其中，步骤2中所述的构建致命性Type-I型制造缺陷相关的出厂良品率损失费用模型Y₀是指基于既定的缺陷尺寸特征分布s₀(x)及因缺陷尺寸过大超出关键尺寸阈值x°导致器件失效的概率p1＝Pr(x＞x°|s₀(x))，受致命性缺陷效应的影响，电子器件判为不合格的出厂良品率损失费用为式中，c₀为单位器件的销售价格，N指单位电子器件包含的制造缺陷数目；

其中，步骤3中所述的量化出厂检测后截尾的新型缺陷尺寸分布s₁(x)是指由于出厂检验的测试剔除了超出关键尺寸阈值x°的致命性缺陷，初始缺陷尺寸特征分布s₀(x)发生变化，精炼为截尾的尺寸分布s₁(x)，其缺陷尺寸大小符合x₁≤x°；

其中，步骤4中所述的确定依照尺寸增长规律的新型尺寸特征分布s₂(x)是指缺陷尺寸增长规律符合RULE1：缺陷尺寸以系数k₁比例于当前缺陷尺寸大小x₁(x₁～s₁(x))的速率增长，即存在关系：dx/dt＝k₁x₁，给定保修期w，对应地增长后的缺陷尺寸x₂为

2.根据权利要求1所述的一种考虑制造质量偏差损失的产品最优老炼测试时间估算方法，其特征在于：步骤5中构建的非致命性Type-II型制造缺陷相关的保修费用模型W₀是指基于因非致命性缺陷或可靠性缺陷尺寸的增大超出关键尺寸阈值x°导致器件失效的概率p₂，受非致命性缺陷尺寸增长的影响，使用保修期内的保修费用为式中，c₁为单位器件在保修期w内的失效成本。