[发明专利]一种考虑制造质量偏差损失的产品最优老炼测试时间估算方法

说明书

一种考虑制造质量偏差损失的产品最优老炼测试时间估算方法，一、量化表征质量偏差Type‑I型和Type‑II型；二、构建致命性Type‑I型制造缺陷相关出厂良率损失费用模型Y₀；三、量化截尾新型缺陷尺寸分布s₁(x)；四、确定新型尺寸特征分布s₂(x)；五、构建非致命性Type‑II型制造缺陷相关保修费用模型W₀；六、确定依照尺寸增长规律新型尺寸特征分布s₃(x)；七、构建老炼费用模型C_b及老炼时长b内失效费用模型W_b；八、量化老炼试验后截尾新型缺陷尺寸分布s₄(x)；九、确定依照尺寸增长规律新型尺寸特征分布s₅(x)；十、构建保修期w内保修费用模型W₁；十一、量化老炼试验增加的老炼费用Δ₁；十二、量化老炼测试环境减小质量偏差损失Δ₂；十三、建立目标函数g(b)_，求确定最优老炼时间。

技术领域

本发明提供了一种考虑制造质量偏差损失的产品最优老炼测试时间估算方法，属于电子产品可靠性试验与管理技术领域。

背景技术

电子产品广泛应用于国民经济的各行各业，各类工业和消费产品大都有电子模块。电子产品的质量与技术水平是当代高新技术的集中反映，随着市场竞争的日益激烈，其可靠性水平已经成为终端用户和制造企业共同的关注的焦点。电子产品的可靠性试验与管理技术作为传统质量管理的重要补充，愈来愈受到广大电子产品制造企业的重视并成为可靠性系统工程技术研究的重点。

在电子产品制造过程中，出厂测试试验后，批量生产的产品在投入使用的初期阶段发生的故障数量及严重程度，是顾客感知产品质量优劣并形成消费信任的关键。在电子产品早期使用阶段，产品逐渐暴露出由设计缺陷、制造缺陷、材料缺陷等系列问题引发的早期故障，呈现出较高的故障率，并具有迅速下降的趋势特征，其可靠性水平呈现浴盆曲线形状。经过一定时间的早期磨合后，产品可靠性水平不断逼近设计可靠性目标，早期故障率的变化规律对电子产品正常使用阶段的故障率影响重大。大量工程实践表明，产品的早期故障主要是由制造阶段质量特性偏差导致的潜在制造缺陷造成的，这些潜在制造缺陷在传统的质量检验环节不易检出，以“质量合格品”的形式流入消费者手中并在使用初期阶段引发与时间、应力相关的故障，带来严重的质量与可靠性问题。生产过程中的固有不确定性决定了制造质量偏差的存在，影响生产过程的稳定性，使得制造产品的质量难以保证，而质检环节的疏漏进一步恶化了顾客使用感知的质量与可靠性水平。可见，为保证批量生产的产品可靠性水平，考虑制造过程制造质量偏差信息合理设计生产末端的可靠性检验、筛选等环节是预防产品出现相对较高的早期故障率是关键。