[发明专利]具有测量标记的液晶显示装置、测量密封线的设备和方法

权利要求书

1.一种液晶显示装置，该液晶显示装置包括：

第一基板和第二基板，所述第一基板和所述第二基板包括显示区以及在所述显示 区的外部的虚设区，所述第一基板和所述第二基板彼此附接，并且在附接的所述第一 基板和所述第二基板之间设置液晶层；

密封线，所述密封线在附接的所述第一基板和所述第二基板的所述虚设区中；以 及

多个测量标记，所述多个测量标记与所述密封线的至少一部分交叠，

其中，所述多个测量标记使得能够判断所述密封线是否设置在预定位置，并且在 制造处理中实时地测量测量标记和所预定位置之间的距离。

2.根据权利要求1所述的液晶显示装置，其中，所述多个测量标记按照规则距 离间隔沿着所述密封线的宽度方向布置。

3.根据权利要求2所述的液晶显示装置，其中，所述多个测量标记包括两个位 置测量标记，以判断所述密封线是否精确地设置在所述预定位置，并且所述两个位置 测量标记之间的距离与所述密封线的宽度相对应。

4.根据权利要求3所述的液晶显示装置，其中，通过对在所述密封线的一侧端 部与所述两个位置测量标记中的靠近所述密封线的所述一侧端部的位置测量标记之 间的测量标记进行计数，来测量所述密封线距所述预定位置的距离。

5.根据权利要求2所述的液晶显示装置，其中，所述测量标记的宽度为约3.0μm -4.0μm。

6.根据权利要求2所述的液晶显示装置，其中，相邻的测量标记之间的距离间 隔为约4.5μm-5.5μm。

7.根据权利要求2所述的液晶显示装置，其中，所述测量标记设置在所述密封 线的两侧端部附近的区域处。

8.根据权利要求1所述的液晶显示装置，其中，所述多个测量标记中的每一个 包括金属图案、绝缘图案和半导体图案中的至少一种。

9.一种用于检查液晶显示装置的密封线的设备，该设备包括：

相机，所述相机用于拍摄所述液晶显示装置的虚设区中的测量标记和所述密封 线；以及

控制单元，所述控制单元用于分析所述相机的图像，以检测所述密封线的位置和 宽度。

10.根据权利要求9所述的设备，其中，所述控制单元包括：

图像分析单元，所述图像分析单元用于分析由所述相机拍摄的所述图像，以生成 所述密封线和所述测量标记的位置信息；

位置检测单元，所述位置检测单元用于基于来自所述图像分析单元的所述密封线 的位置信息来检测所述密封线的位置；以及

宽度测量单元，所述宽度测量单元用于基于来自所述图像分析单元的所述密封线 的位置信息来测量所述密封线的宽度。

11.根据权利要求10所述的设备，其中，所述控制单元还包括：

比较单元，所述比较单元用于将检测的所述密封线的位置和宽度与预定的位置和 宽度进行比较；以及

判断单元，所述判断单元用于基于来自所述比较单元的比较值来判断质量差的密 封线。

12.一种测量密封线的方法，该方法包括以下步骤：

提供液晶显示装置，所述液晶显示装置包括显示区以及具有密封线和多个测量标 记的虚设区；

通过相机来获得所述密封线和所述测量标记的图像；

通过分析所述图像，基于所述密封线和所述测量标记的信息来检测所述密封线的 位置；以及

基于所述密封线和所述测量标记的信息来检测所述密封线的宽度。

13.根据权利要求12所述的方法，其中，检测所述密封线的位置的步骤包括以 下步骤：

分析所获得的图像，以检测所述密封线和位置测量标记的位置；以及

对所述密封线和位置测量标记之间的所述测量标记进行计数，以检测所述密封线 的位置。

14.根据权利要求12所述的方法，其中，检测所述密封线的宽度的步骤包括以 下步骤：对与所述密封线交叠的所述测量标记进行计数。