[发明专利]具有测量标记的液晶显示装置、测量密封线的设备和方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示装置，更具体地，涉及在其虚设(dummy)区域上具有金属 图案的液晶显示装置的密封线的检查设备和测量方法，以由人眼检测密封线。

背景技术

一般而言，由于轻重量、低功耗和高分辨率特点，液晶显示装置可以被用于电视 的大尺寸显示装置以及移动电子产品的小尺寸显示装置。

液晶显示装置包括在其上具有薄膜晶体管和像素电极的下基板、在其上具有红色 滤色器、绿色滤色器和蓝色滤色器的上部基板、以及在附接的下基板和上基板之间的 液晶层。当通过将两个基板彼此附接来制造液晶显示装置时，驱动信号(即，选通信 号)和数据信号被施加到显示区，以在液晶层中生成电场，然后液晶层的液晶分子通 过电场在预定方向上布置，以控制来自背光的光的透射率，因此图像被显示在液晶显 示装置中。

图1是示意性地例示了相关的液晶显示装置的结构的平面图。

如图1所示，该相关的液晶显示装置包括第一基板10、第二基板40、以及设置 在第一基板10和第二基板40之间的液晶层。

在作为下基板的第一基板10上，垂直地设置有多条选通线24和数据线25，以 限定多个像素区，在所述多个像素区中，设置有像素电极23和公共电极。在选通线 24和数据线25的每个交叉部处，薄膜晶体管被设置为开关器件。此外，选通线24 和数据线25的一个端部分别连接到选通焊盘24a和数据焊盘25a，使得驱动信号和 数据信号从印刷电路板被施加到选通线24和数据线25。

第二基板40是上基板。未在图中示出，滤色器层和黑底设置在第二基板上，使 得彩色图像被显示，并且可以阻挡穿过非图像显示区的光，以防止图像恶化。由于第 二基板40的面积小于第一基板10的面积，因此第一基板10的虚设区由于从第二基 板40延伸而暴露。在第一基板10的暴露的虚设区上，设置有选通焊盘24a、数据焊 盘25a、以及将选通焊盘24a和数据焊盘25a分别连接到选通线24和数据线25的连 接线。

第一基板10和第二基板40通过密封线50而彼此附接。这里，密封线50通过在 此沉积密封剂沿着第一基板10或者第二基板40的边缘区域而形成，然后按压具有密 封线50的第一基板10和第二基板40并且使密封线50硬化，由此使第一基板10和 第二基板40彼此附接。

然而，在相关的液晶显示装置中存在如下的一些问题。

一般而言，通过丝网印刷方法、狭缝涂敷方法和注射器涂敷方法来沉积密封剂， 以形成密封线50。这里，密封线50形成在液晶显示装置的虚设区中。然而，当密封 线50延伸到显示区时，显示区中的液晶层与密封线50接触，使得液晶分子受到污染。 这种受污染的液晶分子导致液晶分子在液晶显示装置的驱动模式下的未对准 (mis-alignment)，使得通过液晶层的透光率不能被控制，然后图像可能被恶化。

因此，密封线50应当设置在虚设区处，而不是显示区处。为了达到这个目的， 密封线50应当按预定宽度形成在预定位置处。另外，密封线50应当被精确地测量， 以便按预定宽度在预定位置处形成密封线。然而，在相关的液晶显示装置中，由于密 封线50的宽度不能在液晶显示装置制造处理期间被测量，因此在制造处理期间仅能 基于来自丝网打印机、狭缝涂敷机或者注射器的密封剂的沉积量来估计密封线50的 宽度。为了测量密封线50的宽度，密封线50应当在制造处理完成之后由人眼观测 (observe)。

因此，由于不能在制造处理期间实时地测量密封线50的宽度，因此接下来的制 造处理可能在下面的情况下进行：密封线50的宽度不是预定的宽度，然后制造的基 板可能是有缺陷的。结果，由这些接下来的制造处理浪费了成本和时间。

另外，由于密封线50由操作者的眼睛来检查，因此当在终止液晶显示装置的制 造处理之后对密封线50进行检查时，不可能精确地测量密封线50的宽度和位置。为 了解决这个问题，操作者能够利用显微镜来测量密封线50的宽度和位置。然而，在 这种情况下，操作者必须利用显微镜逐一检查所制造的液晶显示装置，使得制造处理 会由于时间消耗而延迟。

发明内容

因此，本发明致力于一种液晶显示装置，该液晶显示装置基本上消除了由于相关 技术的局限性和缺点而导致的一个或更多个问题。

因此，本发明的一个目的在于提供一种检测和测量液晶显示装置的密封线的位置 和宽度的设备和方法。