[发明专利]SOC芯片频率测试方法有效
| 申请号： | 201510638196.1 | 申请日： | 2015-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN105182067B | 公开（公告）日： | 2018-03-06 |
| 发明（设计）人： | 李冬梅;王刚;黄凯翔;张方方;李杰 | 申请（专利权）人： | 上海大学 |
| 主分类号： | G01R23/02 | 分类号： | G01R23/02 |
| 代理公司： | 上海上大专利事务所(普通合伙)31205 | 代理人： | 顾勇华 |
| 地址： | 200444*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | soc 芯片 频率 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种SOC芯片频率测试方法，使用ATE测试芯片时钟系统，其特征在于，步骤如下：
a.SOC芯片通过测试端口传输信号到对应的信号通道，然后再传输到ATE中进行测试，使每个测试信号对应一个信号通道，对测试结果信息进行比特化，得到测试数据；
b.启用ATE上HRAM的OneBitMode，将在所述步骤a中得到的比特化的测试数据放入HRAM中存储；
c.调用HRAM中存储的测试数据，对测试数据进行快速傅立叶变换FFT处理，然后对FFT处理后的数据进行汉宁窗处理，最后采用插值计算方法，最终得到SOC芯片频率；在本步骤中，采用插值计算方法时，首先判断和大小，然后选择如下计算公式计算SOC芯片频率：
或者
在上述公式中，G为对频率傅立叶变换后结果，f为SOC芯片频率，kmax为频率粗略估计值，s为r为
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