[发明专利]普通整流二极管芯片的硫化工艺在审
申请号: | 201510708003.5 | 申请日: | 2015-10-28 |
公开(公告)号: | CN105390394A | 公开(公告)日: | 2016-03-09 |
发明(设计)人: | 王伟;申君光;张海霞;卞秋野;钱芳;任子学 | 申请(专利权)人: | 国家电网公司;国网山东省电力公司东营供电公司;国网山东利津县供电公司 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100031 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 普通 整流二极管 芯片 硫化 工艺 | ||
技术领域
本发明属于普通整流二极管芯片的生产工艺领域,特别地,涉及一种普通整流二极管芯片的硫化工艺。
背景技术
采目前市场上大部分二极管芯片的端电极是由银基陶瓷制成的。金属银具有若干有利的属性,包括高电导率以及当在空气中烧制银基陶瓷时对氧化的极好免疫性。令人遗憾的是金属银也有其不足,一种这样的不足就是金属银对硫和硫的化合物相当敏感。而且,银形成不导电的硫化银,导致银基芯片出现开路。为了解决此技术难题,已经有文献提出了采用注压硫化法,注压硫化法工艺有点是比氮气硫化法成品的平整度要高,在注压过程中,加热模板所提供的热量仅仅只用于维持硫化,它能很快含硫的成分加热到190℃-220℃。在模压过程中,由加热所提供的热量首先要用于预热芯片本身携带的硫化物,由于这些硫化物,比如橡胶、胶制品的导热性能差,如果附着的硫化物很厚,热量要传导到附着的硫化物中心需要较长的时间。采用高温硫化也可在一定程度上缩短操作时间,但往往导致靠近热板的附着的硫化物边缘出现焦烧。
发明内容
为了克服上述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种普通整流二极管芯片的硫化工艺,采用硫化反应釜,在氩气条件下,快速升温至220℃~260℃,硫化20min~30min,此时,采用反应釜内气体与氩气同等置换法,控制氩气的输入流速和反应釜气体输出流速,降温至150℃~180℃,然后每20min以5℃~10℃梯度式降温至80℃~100℃,硫化2h~3h,然后降温放料。
如上所述的工艺,所述氩气的输入流速和反应釜气体输出流速8~10L/min,输入的氩气预先预热至120℃。
如上所述的工艺,以每20min降低5℃进行梯度式降温。
如上所述的工艺,快速升温的最高温度为230℃,梯度式降温最低温度为100℃。
如上所述的工艺,氩气纯度为99.99%,氩气的输入流速为8L/min。
本发明可以有效的去除芯片上的硫化物,本硫化工艺,在氩气的环境里,采用了快速升温然后梯度式降温的方法,可以有效的降低导致靠近热板的附着的硫化物边缘出现焦烧,同时,不影响芯片的平整度。
具体实施方式
下面对本发明作进一步详细的描述。
一种普通整流二极管芯片的硫化工艺,采用硫化反应釜,在氩气条件下,快速升温至220℃~260℃,硫化20min~30min,此时,采用反应釜内气体与氩气同等置换法,控制氩气的输入流速和反应釜气体输出流速,降温至150℃~180℃,然后每20min以5℃~10℃梯度式降温至80℃~100℃,硫化2h~3h,然后降温放料。
如上所述的工艺,所述氩气的输入流速和反应釜气体输出流速8~10L/min,输入的氩气预先预热至120℃。
如上所述的工艺,以每20min降低5℃进行梯度式降温。
如上所述的工艺,快速升温的最高温度为230℃,梯度式降温最低温度为100℃。
如上所述的工艺,氩气纯度为99.99%,氩气的输入流速为8L/min。
实施例1
采用如下温度控制方案:
快速升温至220℃,硫化20min~30min,此时,采用反应釜内气体与氩气同等置换法,控制氩气的输入流速和反应釜气体输出流速,降温至150℃,然后每20min以5℃梯度式降温至80℃,硫化2h~3h,然后降温放料。
实施例2
采用如下温度控制方案:
快速升温至260℃,硫化20min~30min,此时,采用反应釜内气体与氩气同等置换法,控制氩气的输入流速和反应釜气体输出流速,降温至150℃,然后每20min以5℃梯度式降温至80℃,硫化2h~3h,然后降温放料。
实施例3
采用如下温度控制方案:
快速升温至230℃,硫化20min~30min,此时,采用反应釜内气体与氩气同等置换法,控制氩气的输入流速和反应釜气体输出流速,降温至180℃,然后每20min以10℃梯度式降温至100℃,硫化2h~3h,然后降温放料。
实施例4
采用如下温度控制方案:
快速升温至240℃,硫化20min~30min,此时,采用反应釜内气体与氩气同等置换法,控制氩气的输入流速和反应釜气体输出流速,降温至150℃,然后每20min以5℃梯度式降温至80℃,硫化2h~3h,然后降温放料。
实施例5
采用如下温度控制方案:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国家电网公司;国网山东省电力公司东营供电公司;国网山东利津县供电公司,未经国家电网公司;国网山东省电力公司东营供电公司;国网山东利津县供电公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510708003.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体器件的制造方法和半导体器件
- 下一篇:用于处理含氧半导体主体的方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造