[发明专利]一种嵌入式芯核测试壳装置及其设计方法

权利要求书

1.一种嵌入式芯核测试壳装置，其特征在于，包括：

测试壳指令寄存器WIR、测试壳边界寄存器WBR、测试壳旁路寄存器WBY、测试壳选通器选择信号产生器MSG、第一选通器和第二选通器；

其中，所述WIR依据接收到的信号指令，输出相应的控制信号；

所述MSG依据所述控制信号中的信号序列，生成选通器选择信号序列，并依据预设的映射规则，将所述选通器选择信号序列映射输出到所述WBR中相应的选通器MUX中，所述映射规则依据WBR中的WBR单元和选通器MUX的连接方式及各个选通器的功能预先设定。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述MSG包括：

选择信号产生电路和选择信号映射电路；

所述选择信号产生电路用于接收所述控制信号中的信号序列，并依据所述控制信号中的信号序列，生成选通器选择信号序列；

所述选择信号映射电路用于依据预设的映射规则，将所述选通器选择信号序列映射输出到所述WBR中相应的选通器MUX中。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述控制信号中的信号序列包括：

信号wir_wpc、信号wir_extest和信号wir_scanmode组成的序列；

其中，wir_wpc有效表示当前WIR指令为并行测试指令，wir_extest有效表示当前WIR指令为外部测试指令，wir_scanmode有效表示当前WIR指令为测试壳扫描链扫描测试模式。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述选通器选择信号序列包括：

信号wsc_en、信号wpc_ext_inv、信号wsc_int及信号wpc_ext组成的序列；

其中：

wsc_en和wpc_ext_inv用于为所述嵌入式芯核测试壳装置配置并行测试模式，wsc_en信号为1时选择所述嵌入式芯核测试壳装置的测试壳串行输入WSI作为测试壳扫描链第一个WBR单元的测试输入，为0时选择所述嵌入式芯核测试壳装置的测试壳并行输入WPI作为测试壳扫描链第一个WBR单元的测试输入；wpc_ext_inv信号为1时选择所述嵌入式芯核测试壳装置扫描链上一个WBR单元的测试输出作为下一个WBR单元的测试输入，为0时选择所述WPI作为下一个WBR单元的的测试输入；

wsc_int和wpc_ext用于为所述嵌入式芯核测试壳装置配置内部扫描测试模式，wsc_int为1时将嵌入式芯核内部扫描链与所述嵌入式芯核测试壳装置的扫描链串联，为0时将嵌入式芯核内部扫描链与所述嵌入式芯核测试壳装置的扫描链并联；wpc_ext为1时将所述嵌入式芯核测试壳装置并行扫描链最后一个WBR单元的测试输出作为所述嵌入式芯核测试壳装置的所述WPO，为0时将嵌入式芯核内部扫描链最后一个扫描单元的扫描输出作为所述嵌入式芯核测试壳装置的所述WPO。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述选择信号产生电路包括：

四个逻辑与门与三个逻辑非门；

其中，逻辑与门1输入wir_wpc和wir_extest后输出wpc_ext，逻辑非门1输入wir_wpc后输出信号给逻辑与门2，逻辑与门2的另一个输入端输入wir_scanmode，输出wsc_en，逻辑非门3输入逻辑与门1的输出信号wpc_ext后，输出信号给逻辑与门3，逻辑与门3的另一个输入端输入wir_scanmode，输出wpc_ext_inv，逻辑非门2输入wir_extest后输出信号给逻辑与门4，逻辑与门4的另一端输入逻辑与门2的输出信号wsc_en，输出wsc_int。