[发明专利]磁浮曲线F型轨曲率二维的测量装置及其检测方法

权利要求书

1.一种磁浮曲线F型轨曲率二维的测量装置，包括检测平台和检测装置，其特征在于，所述检测装置和曲线F型轨间隔设置在所述检测平台顶部，所述检测装置包括驱动装置、激光测距传感器及直线导轨，所述直线导轨沿所述于曲线F型轨延伸方向设置，所述驱动装置驱动所述激光测距传感器沿所述直线导轨匀速运动。

2.根据权利要求1所述的磁浮曲线F型轨曲率二维的测量装置，其特征在于，还包括光栅尺和滑块，所述光栅尺和滑块依次设于所述直线导轨，所述光栅尺用于检测所述激光测距传感器的移动距离。

3.根据权利要求1所述的磁浮曲线F型轨曲率二维的测量装置，其特征在于，所述直线导轨通过导轨座固设于所述检测平台。

4.根据权利要求1所述的磁浮曲线F型轨曲率二维的测量装置，其特征在于，所述曲线F型轨通过其底部设置的垫板设于所述检测平台。

5.根据权利要求1所述的磁浮曲线F型轨曲率二维的测量装置，其特征在于，所述激光测距传感器与所述曲线F型轨的待检测面相对设置。

6.根据权利要求1所述的磁浮曲线F型轨曲率二维的测量装置，其特征在于，所述驱动装置为驱动马达。

7.一种磁浮曲线F型轨曲率二维的测量方法，其特征在于，包括：

步骤一、将检测装置与曲线F型轨间隔设置；

步骤二、所述检测装置包括激光测距传感器，所述曲线F型轨的待检测面与测激光测距传感器相对；

步骤三、提供驱动装置和直线导轨，将所述激光测距传感器和所述驱动装置设于所述直线导轨；

步骤四、启动所述激光测距传感器和所述驱动装置，所述驱动装置驱动所述激光测距传感器沿所述直线导轨匀速运动；

步骤五、提供光栅尺，所述光栅尺检测所述激光测距传感器的移动距离；

步骤六、所述激光测距传感器在设定的长度上测出一组待检测面到所述激光测距传感器的距离，并采集到一组被测面上的位置点，将被测点拟合成一条曲线，与理论曲线比对，得出被测面曲率的误差。