[发明专利]磁浮曲线F型轨曲率二维的测量装置及其检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及曲线F型轨的曲率测量技术领域，尤其涉及一种磁浮曲线F型轨曲率二维的测量装置及其检测方法。

背景技术

在中低速磁浮轨道曲线F型轨的加工中，曲线F型轨的曲率(或线性)控制是曲线F型轨加工中的难点和重点，因此曲线F轨曲率的检测尤为重要。

目前最常用的方法是用平尺或绷线测量弦高的方法推算出曲率或曲线半径，测量精度低，只能满足毛坯弯制的检测要求，无法保证F型轨加工后成品的测量精度要求。

也可采用三维激光测量技术进行三维检测，通过采集被测物体表面大量的密集的点的三维坐标、反射率和纹理等信息，可复建出被测目标的三维模型及线、面、体各种图形数据，通过数据处理，得出检测结果。三维检测精度高，可对F型轨进行全方位进行检测，但测量过程和数据处理都较复杂，费时费力，测量效率很低。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供一种磁浮曲线F型轨曲率二维的测量装置。

本发明提供的磁浮曲线F型轨曲率二维的测量装置包括检测平台和检测装置，所述检测装置和曲线F型轨间隔设置在所述检测平台顶部，所述检测装置包括驱动装置、激光测距传感器及直线导轨，所述直线导轨沿所述于曲线F型轨延伸方向设置，所述驱动装置驱动所述激光测距传感器沿所述直线导轨匀速运动。

在本发明的一种较佳实施例中，还包括光栅尺和滑块，所述光栅尺和滑块依次设于所述直线导轨，所述光栅尺用于检测所述激光测距传感器的移动距离。

在本发明的一种较佳实施例中，所述直线导轨通过导轨座固设于所述检测平台。

在本发明的一种较佳实施例中，所述曲线F型轨通过其底部设置的垫板设于所述检测平台。

在本发明的一种较佳实施例中，所述激光测距传感器与所述曲线F型轨的待检测面相对设置。

在本发明的一种较佳实施例中，所述驱动装置为驱动马达。

本发明还提供一种磁浮曲线F型轨曲率二维的测量方法，包括：

步骤一、将检测装置与曲线F型轨间隔设置；

步骤二、所述检测装置包括激光测距传感器，所述曲线F型轨的待检测面与测激光测距传感器相对；

步骤三、提供驱动装置和直线导轨，将所述激光测距传感器和所述驱动装置设于所述直线导轨；

步骤四、启动所述激光测距传感器和所述驱动装置，所述驱动装置驱动所述激光测距传感器沿所述直线导轨匀速运动；

步骤五、提供光栅尺，所述光栅尺检测所述激光测距传感器的移动距离；

步骤六、所述激光测距传感器在设定的长度上测出一组待检测面到所述激光测距传感器的距离，并采集到一组被测面上的位置点，将被测点拟合成一条曲线，与理论曲线比对，得出被测面曲率的误差。

相较于现有技术，本发明提供的磁浮曲线F型轨曲率二维的测量装置及其检测方法用于测量曲线F型轨曲率，同时可检测F型轨毛坯弯制后和机加工后；亦可用于其它曲线、曲面的检测，本发明能同时准确、方便、快速地对曲线F型轨的曲率进行检测，解决了F型轨加工过程中曲率的检测难题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：

图1是本发明提供的磁浮曲线F型轨曲率二维的测量装置的俯视图；

图2是本发明提供的磁浮曲线F型轨曲率二维的测量装置侧视图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明公开一种磁浮曲线F型轨曲率二维的测量装置，请同时参阅图1和图2。所述磁浮曲线F型轨曲率二维的测量装置包括检测平台9和检测装置，所述检测装置和曲线F型轨2间隔设置在所述检测平台顶部9。

所述检测装置包括驱动装置5、激光测距传感器3、直线导轨7、光栅尺6和滑块4，所述直线导轨7沿所述于曲线F型轨2延伸方向设置，所述驱动装置5驱动所述激光测距传感器3沿所述直线导轨7匀速运动，所述光栅尺6和滑块4依次设于所述直线导轨7，所述光栅尺6用于检测所述激光测距传感器3的移动距离。