[发明专利]一种电子设备效能的环境影响评估方法

权利要求书

1.一种电子设备效能的环境影响评估方法，其特征在于，包括以下步骤，

引入实际应用环境因素：对电子设备实际应用环境因素进行分类、概括、综合以及分析，结合原有电子设备的能力指标集，得到考虑实际环境因素的新的设备能力指标体系；

实际应用环境影响模型计算：采用实际应用环境模型，得到实际应用环境对设备能力指标的影响值；

综合评估：根据新的设备能力指标体系，利用综合评估模型，计算设备实际能力指标集，得到考虑实际应用环境的电子设备实际评估结果。

2.按照权利要求1所述的一种电子设备效能的环境影响评估方法，其特征在于，所述步骤引入实际应用环境因素中，电子设备实际应用环境分为地理环境、气象环境和电磁环境。

3.按照权利要求2所述的一种电子设备效能的环境影响评估方法，其特征在于：定义引入的实际应用环境因素E＝<S，A，R，T>，其中：S为地理环境因素，A为气象环境因素，R为电磁环境因素，T为时间。

4.按照权利要求3所述的一种电子设备效能的环境影响评估方法，其特征在于，所述步骤实际应用环境影响模型计算中定义实际应用环境影响模型Q＝考虑实际应用环境因素的电子设备效能/未考虑实际应用环境因素的电子设备效能，具体包括以下步骤：

(1)建立效用函数，a决定效用函数开始影响的初始；b决定影响曲线斜率变化情况，选取能较好反映影响变化的效用函数f1(x)=e-8+15x1+e-8+15x,f2(x)=e-7+15x1+e-7+15x,f3(x)=e-7+14x1+e-7+14x;]]>

(2)建立实际应用环境影响模型，实际应用环境影响模型和效用函数的关系为：Q_r(X)＝1-f₁(X)、Q_s(X)＝1-f₂(X)、Q_a(X)＝1-f₃(X)；

得到

实际应用电磁环境影响模型

实际应用地理环境影响模型

实际应用气象环境影响模型

其中：x是自然环境的优劣程度，取值区间定为[0,1]或[0,100]；(3)电子设备效能评估，定义P_实＝Q·P_平，

其中：Q是通过实际应用环境影响模型的计算得到的效用值，即实际应用环境对电子设备能力指标的影响值；P_平是未考虑实际应用环境因素时的设备能力指标值；P_实是考虑实际应用环境因素时的设备能力指标值。

5.按照权利要求1所述的一种电子设备效能的环境影响评估方法，其特征在于：所述步骤综合评估中所述的综合评估模型采用AHP模型、DEA模型、TOPSIS模型、ADC模型、SEA模型、M-C模型、EA模型、灰色综合评估模型、指数计算模型等评估模型中的一种。