[发明专利]一种电子设备效能的环境影响评估方法在审

专利信息
申请号: 201510731930.9 申请日: 2015-11-02
公开(公告)号: CN105373884A 公开(公告)日: 2016-03-02
发明(设计)人: 高岚岚;李学军;禇明伟 申请(专利权)人: 高岚岚
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 龚燮英
地址: 100141*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 电子设备 效能 环境 影响 评估 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及电子设备技术领域,特别是一种电子设备效能的环境影响评估方法。

背景技术

目前社会正向着智能化、自动化的方向发展,生产和生活中使用的各种设备都拥有自己的电子信息系统,特别是电子通信设备。这些电子设备在使用过程中容易受到地形、地貌、气象、电磁等环境的影响。由于受到外界的干扰,会影响到电子设备效能的发挥。

中国发明专利申请CN102867104A公开了一种电子设备的电磁环境影响因素的定量分析方法,采用将影响因素数据接口装置、电子设备数据接口装置采集的信号源数据通过数据采集装置将上述传输至影响因素主次关系定量分析装置,进行电子设备的影响因素主次关系的定量分析。此发明虽然能够实现对n各影响因素的综合分析并对其主次关系进行搜索、判断和排序,预测或确定影响电子设备的相关电磁环境的主要因素,以便排除或减小电磁环境影响的主因素对电子设备性能进行的干扰。但是,此发明涉及的电磁环境影响因素,并没有涉及地形、地貌、气象等因素;另外,此发明只是涉及这些影响因素的定量分析,并没有涉及受这些因素影响后电子设备效能的评估定量分析。

发明内容

本发明需要解决的技术问题提供一种电子设备效能的环境影响评估方法。

为解决上述的技术问题,本发明的一种电子设备效能的环境影响评估方法,包括以下步骤,

引入实际应用环境因素:对电子设备实际应用环境因素进行分类、概括、综合以及分析,结合原有电子设备的能力指标集,得到考虑实际环境因素的新的设备能力指标体系;

实际应用环境影响模型计算:采用实际应用环境模型,得到实际应用环境对设备能力指标的影响值;

综合评估:根据新的设备能力指标体系,利用综合评估模型,计算设备实际能力指标集,得到考虑实际应用环境的电子设备实际评估结果。

进一步的,所述步骤引入实际应用环境因素中,电子设备实际应用环境分为地理环境、气象环境和电磁环境。

更进一步的,定义引入的实际应用环境因素E=<S,A,R,T>,其中:S为地理环境因素,A为气象环境因素,R为电磁环境因素,T为时间。

更进一步的,所述步骤实际应用环境影响模型计算中定义实际应用环境影响模型Q=考虑实际应用环境因素的电子设备效能/未考虑实际应用环境因素的电子设备效能,具体包括以下步骤:

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