[发明专利]一种绝缘子RTV涂层厚度的测量方法

权利要求书

1.一种绝缘子RTV涂层厚度的测量方法，其特征是，包括如下步骤：

S1、用设定的脉冲激光对RTV涂层进行轰击，记录所述RTV涂层被击穿时激光的轰击次数x；

S2、根据f(x)＝ax+b计算所述RTV涂层的厚度f(x)；

其中，参数a和b通过如下实验步骤确定：

用所述设定的脉冲激光对所述RTV涂层进行轰击，记录击穿的RTV涂层的厚度与对应激光轰击的次数；

拟合曲线f(x)＝ax+b，得到所述参数a和b。

2.如权利要求1所述的绝缘子RTV涂层厚度的测量方法，其特征是，在步骤S1之前，还包括如下步骤：

确定当前测量的RTV涂层的材料是否与所述实验步骤中的RTV涂层是否相同，如相同则执行步骤S1。

3.如权利要求1所述的绝缘子RTV涂层厚度的测量方法，其特征是，在步骤S1中，通过如下步骤确定所述RTV涂层被击穿时激光的轰击次数x：

S11、所述脉冲激光每轰击一次所述RTV涂层，记录轰击产生的发射光谱，并记录所述发射光谱中碳线和硅线的强度；

S22、当所述发射光谱中碳线强度出现极小值、且硅线强度上升时，则判断所述RTV涂层被击穿，记录此时激光的轰击次数x。

4.如权利要求1所述的绝缘子RTV涂层厚度的测量方法，其特征是，

在步骤S1中，调整激光器的透镜，使所述激光器的聚焦焦点位于所述RTV涂层的上表面的下方设定位置。

5.如权利要求4所述的绝缘子RTV涂层厚度的测量方法，其特征是，聚焦焦点位于所述RTV涂层的上表面的下方、且至所述RTV涂层的上表面的距离不超过0.05mm。