[发明专利]一种绝缘子RTV涂层厚度的测量方法

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种绝缘子RTV涂层厚度的测量方法。

【背景技术】

输电线路良好的外绝缘状态是电力系统安全运行的重要保障。以复合绝缘子(合成绝缘子)、增爬裙和室温硫化硅橡胶涂料(RTV涂料)为代表的硅橡胶材料在电力系统外绝缘领域(尤其高电压外绝缘领域)大量使用后，外绝缘设备的耐污闪能力得到显著改善。在我国电网中，以室温硫化硅橡胶为主要成分的RTV防污闪涂料被大量使用。

RTV防污闪涂料涂覆在电瓷或玻璃绝缘子的表面，使原本亲水性的表面变为憎水性，能够显著提高绝缘子的污闪电压。均匀的涂层厚度有利于改善绝缘子表面的憎水性状态，缓解电场强度集中的问题。电力行业标准中对RTV涂层的厚度具有明确的要求，一般是0.3-0.5mm，但由于施工工艺的不完善(喷涂、浸涂、刷涂工艺不完善)，以及现场环境的限制，RTV涂层的厚度与涂层的均匀性难以保证，绝缘子各部位的厚度不一致，往往不能满足施工要求，因此需要有适宜的测量技术进行厚度测量。

另一方面，RTV涂层防污秽闪络的能力与其厚度相关，长期运行后受运行工况、高电场强度、高温高湿度、酸雨等各种条件影响，RTV涂层的厚度会发生变化而呈现不均匀性，甚至起皮和粉化，从而影响其运行性能。对长期运行的RTV涂层进行厚度测量，有利于实时监测其运行状况，为输电线路维护提供策略支持。

目前常规的测试方法，主要有楔形法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法和β射线反向散射法等。前几种属于破坏性的有损监测，测量手段复杂，速度慢，只适用于抽样检测。X射线和β射线的方法装置极其昂贵，测量的范围有限，样品要求高。

现有的金属表面涂层测厚法，主要有磁阻法、漩涡法、超声法和电火花法等。其中磁阻法主要是通过探测经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通大小来测定厚度，磁阻越大厚度越厚；超声法将超声波在试样中的传播速度乘以通过试样时间的一半得到试样的厚度；电火花法则是通过高压电击穿针孔或气泡等缺陷来判断涂层的厚度的质量。这些方法均用于磁性或者非磁性金属的表面涂层，对于非金属表面的涂层厚度，其应用精度难以保证。

因此，一种直接的厚度测量方法对于实现RTV涂层厚度的测量具有重要意义。

【发明内容】

为了克服现有技术的不足，本发明提供了一种适宜现场使用的绝缘子RTV涂层厚度的测量方法。

一种绝缘子RTV涂层厚度的测量方法，包括如下步骤：

S1、用设定的脉冲激光对RTV涂层进行轰击，记录所述RTV涂层被击穿时激光的轰击次数x；

S2、根据f(x)＝ax+b计算所述RTV涂层的厚度f(x)；

其中，参数a和b通过如下实验步骤确定：

用所述设定的脉冲激光对所述RTV涂层进行轰击，记录击穿的RTV涂层厚度f(x)与对应激光轰击的次数x；

拟合曲线f(x)＝ax+b，得到所述参数a和b。

在一个实施例中，

在步骤S1之前，还包括如下步骤：

确定当前测量的RTV涂层的材料是否与所述实验步骤中的RTV涂层是否相同，如相同则执行步骤S1。

在一个实施例中，

在步骤S1中，通过如下步骤确定所述RTV涂层被击穿时激光的轰击次数x：

S11、所述脉冲激光每轰击一次所述RTV涂层，记录轰击产生的发射光谱，并记录所述发射光谱中碳线和硅线的强度；

S22、当所述发射光谱中碳线强度出现极小值、且硅线强度上升时，则判断所述RTV涂层被击穿，记录此时激光的轰击次数x。

在一个实施例中，

在步骤S1中，调整激光器的透镜，使所述激光器的聚焦焦点位于所述RTV涂层的上表面的下方设定位置。

在一个实施例中，

聚焦焦点位于所述RTV涂层的上表面的下方、且至所述RTV涂层的上表面的距离不超过0.05mm。

本发明的有益效果是：

不论绝缘子RTV涂层运行年限，只要在校核后通过测量激光的轰击次数就可以获得RTV涂层的厚度值，适宜于现场应用。

【附图说明】

图1是本发明一种实施例的绝缘子RTV涂层厚度的测量系统示意图；

图2是本发明一种实施例的绝缘子RTV涂层厚度的测量方法的拟合曲线。

【具体实施方式】

以下对发明的较佳实施例作进一步详细说明。