[发明专利]优化数字芯片验证平台测试用例回归次数的方法

权利要求书

1.一种优化数字芯片验证平台测试用例回归次数的方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一：将待回归的批量用例放入等待队列；

步骤二：用例提交控制器根据当前状态控制量控制待回归用例的出队、运行；所述状态控制量包括用例对功能覆盖贡献率；

步骤三：全部回归用例提交到服务器上执行完成之后，使用分析脚本统计用例运行结果，包括用例成功运行比率、代码覆盖率、功能覆盖率、用例完成时间；

步骤四：分析步骤三得到的统计数据，输出验证报告。

2.如权利要求1所述的优化数字芯片验证平台测试用例回归次数的方法，所述步骤三中，用例在服务器上的执行过程为：设定每个用例的回归次数上限N_n，n是不同用例的编号，n＝123…，设定回归用例的回归期望贡献率a₀，每条用例执行完成的覆盖贡献率a_{n_m}，m是同一用例回归多次的编号，m＝123…；在回归用例控制器中加入a_{n_m}控制量，a_{n_m}<a₀时则停止该用例的再次回归，否则直至该用例回归次数到达该用例的回归次数上限N_n停止该用例的再次回归，直到全部用例执行完成。

3.如权利要求1所述的优化数字芯片验证平台测试用例回归次数的方法，所述状态控制量还包括：

当前回归提交到服务器上同时执行的用例数量：当此值大于预设值时，停止待回归用例的出队调用，待提交用例完成使得此值减小到提交数量上限，允许调用回归队列内的用例；

已完成回归的用例执行结果：如果用例回归仿真出现错误，则该用例进入再回归队列等待再次回归。