[发明专利]优化数字芯片验证平台测试用例回归次数的方法在审

专利信息
申请号: 201510744147.6 申请日: 2015-11-05
公开(公告)号: CN105426282A 公开(公告)日: 2016-03-23
发明(设计)人: 何全;付彦淇 申请(专利权)人: 天津津航计算技术研究所
主分类号: G06F11/263 分类号: G06F11/263
代理公司: 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 代理人: 刘东升
地址: 300308 天津*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 优化 数字 芯片 验证 平台 测试 回归 次数 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于数字芯片验证领域,涉及一种根据实时覆盖率收集情况来优化数字芯片验证平台测试用例回归次数的方法。

背景技术

目前数字专用集成芯片(ApplicationSpecificIntegratedCircuit,ASIC)的集成度和主频速度呈摩尔定理每两年翻一倍地高速发展,但这也导致了设计周期加长和成片后逻辑功能错误率上升等问题。解决这些问题的关键在于验证,因为在目前的大规模数字ASIC芯片前端设计流程中,验证,主要是对寄存器传输级(RegisterTransferLevel,RTL)代码的验证,工作量已经占到60%~70%(逻辑电路设计只占30%左右),同时,验证质量是决定成片后逻辑功能正确率的最主要因素。

对于大规模ASIC来说,受约束的随机激励覆盖率驱动验证(ConstraintRandomizedCoverageDriveVerification,CRCDV)是一种有效验证流程,一般用于验证features的验证测试用例回归次数为固定数目。理想情况下,每条/次用例对整体覆盖率的提升都有一定贡献,从而使得整体覆盖率快速有效达到预定标准(验证完成出口,一般为95%以上),而实际情况未必如此理想,可能某次回归其中的一些用例再次提交对于覆盖率的提升贡献为零,那么这些用例的提交对于有限的工作站资源就是浪费,而且对整体覆盖率的收集用时也比理想情况有增大的影响。

如图1所示,常规验证回归流程描述如下:

(1)将待回归的批量用例放入等待队列。

(2)用例提交控制器根据当前状态控制量控制待回归用例的出队、运行;

(3)全部回归用例提交到服务器上执行完成之后,使用分析脚本统计用例运行结果,包括用例成功运行比率、代码覆盖率、功能覆盖率、用例完成时间等;

(4)分析上述得到的统计数据,输出验证报告。

上述常规验证回归流程对服务器资源的利用有限,假设在回归队列中某条随机用例的数量是10,该用例在第8次执行之后对覆盖率(代码覆盖率和功能覆盖率)的贡献值是0,那么说明该条用例在第8次执行之后对于bug的发现已经没有贡献(没有新的代码/功能触发),继续运行则占用了有限的服务器资源,也推迟了整体回归完成时间点。

一般的解决方法是用人工方法来逐一确认各个用例的覆盖率贡献情况,修改用例回归条目数量再进行提交,但是这样操作对用例变动的实时性以及覆盖率贡献的准确性有很大缩减,因为再次提交回归用例时,用例的随机种子会有变化,基于随机激励的用例,该回归用例对于总体覆盖率的提升贡献率不能符合之前人工确认的结果。因此有必要寻找一种测试用例回归提交方法,充分利用服务器的有限资源,不造成资源浪费又能有效提高收集覆盖率收集速度。

发明内容

(一)发明目的

本发明的目的是提供一种优化数字芯片验证平台测试用例回归次数的方法,在每条回归用例完成后对该条用例对于总体覆盖率的贡献情况进行计算,不符合预期贡献值的则终止该条用例的再次回归,充分利用服务器的有限资源,提高收集覆盖率收集速度。

(二)技术方案

为了解决上述技术问题,本发明提供一种优化数字芯片验证平台测试用例回归次数的方法,其包括以下步骤:

步骤一:将待回归的批量用例放入等待队列;

步骤二:用例提交控制器根据当前状态控制量控制待回归用例的出队、运行;所述状态控制量包括用例对功能覆盖贡献率;

步骤三:全部回归用例提交到服务器上执行完成之后,使用分析脚本统计用例运行结果,包括用例成功运行比率、代码覆盖率、功能覆盖率、用例完成时间;

步骤四:分析步骤三得到的统计数据,输出验证报告。

其中,所述步骤三中,用例在服务器上的执行过程为:设定每个用例的回归次数上限Nn,n是不同用例的编号,n=123…,设定回归用例的回归期望贡献率a0,每条用例执行完成的覆盖贡献率an_m,m是同一用例回归多次的编号,m=123…;在回归用例控制器中加入an_m控制量,an_m<a0时则停止该用例的再次回归,否则直至该用例回归次数到达该用例的回归次数上限Nn停止该用例的再次回归,直到全部用例执行完成。

其中,所述状态控制量还包括:

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