[发明专利]封装方法有效
申请号: | 201510747383.3 | 申请日: | 2015-11-05 |
公开(公告)号: | CN105374731A | 公开(公告)日: | 2016-03-02 |
发明(设计)人: | 石磊 | 申请(专利权)人: | 南通富士通微电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/68;H01L21/78 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 徐文欣;吴敏 |
地址: | 226006 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 封装 方法 | ||
1.一种封装方法,其特征在于,包括:
提供载板,所述载板包括若干芯片区以及位于相邻芯片区之间的切割区, 所述载板包括第一表面;
在所述载板第一表面的切割区内形成若干凹槽;
提供芯片,所述芯片包括相对的功能面和非功能面;
将所述芯片的功能面与载板芯片区的第一表面固定;
在所述载板第一表面和芯片表面形成塑封层;
去除所述载板,所述塑封层的表面暴露出芯片的功能面;
在所述塑封层表面和芯片的功能面形成再布线结构;
对所述塑封层和再布线结构进行切割,使若干芯片相互分立,形成独立 的封装结构。
2.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,将所述芯片的功能面与载板 芯片区的第一表面固定的步骤包括:在所述芯片的功能面粘贴第一粘结层; 将所述第一粘结层与载板芯片区的第一表面相互粘接,以固定芯片的功能 面和载板芯片区的第一表面。
3.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,将所述芯片的功能面与载板 芯片区的第一表面固定的步骤包括:在所述载板的第一表面涂布第二粘结 层;将芯片的功能面粘接于所述第二粘结层表面,并使所述芯片位于载板 芯片区内。
4.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,在所述载板第一表面的切割 区内形成若干凹槽的工艺为激光切割工艺。
5.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,在所述载板第一表面的切割 区内形成若干凹槽的步骤包括:在所述载板的第一表面形成掩膜层,所述 掩膜层暴露出载板的切割区;以所述掩膜层为掩膜,刻蚀所述载板,在所 述载板的第一表面形成凹槽。
6.如权利要求5所述的封装方法,其特征在于,所述刻蚀工艺为干法刻蚀工 艺或湿法刻蚀工艺。
7.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,所述凹槽垂直于载板第一表 面方向的横截面形状为V型或U型;当所述凹槽的横截面形状为V型时, 所述凹槽的底部尺寸小于顶部尺寸,所述凹槽底部具有顶角;当所述凹槽 的横截面形状为U型时,所述凹槽的侧壁垂直于载板的第一表面。
8.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,所述若干芯片区沿第一方向 和第二方向呈阵列排列,所述第一方向和第二方向相互垂直。
9.如权利要求8所述的封装方法,其特征在于,所述凹槽分别平行于第一方 向和第二方向。
10.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,所述芯片的功能面表面暴露 出焊垫。
11.如权利要求10所述的封装方法,其特征在于,所述焊垫表面低于或齐平于 所述芯片的功能面。
12.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,还包括:在去除所述载板之 后,形成所述再布线结构之前,对所述塑封层表面和芯片的功能面进行清 洗。
13.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,所述塑封层还位于所述凹槽 内;在去除所述载板之后,位于所述凹槽内的部分塑封层形成凸起;在形 成所述再布线结构之前,还包括去除所述凸起。
14.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,还包括:在形成所述再布线 结构之前,在所述塑封层表面形成第一绝缘层,所述第一绝缘层内具有暴 露出所述芯片功能区部分表面的第一通孔;在所述第一通孔内以及部分第 一绝缘层表面形成所述再布线结构。
15.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,还包括:形成所述再布线结 构之后,对所述载板、塑封层和再布线结构进行切割之前,在所述再布线 结构表面形成焊球。
16.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,还包括:在形成所述焊球之 前,在所述再布线结构表面形成第二绝缘层,所述第二绝缘层内具有暴露 出部分再布线结构的第二通孔;在所述第二通孔内形成所述焊球。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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