[发明专利]封装方法有效

专利信息
申请号: 201510747383.3 申请日: 2015-11-05
公开(公告)号: CN105374731A 公开(公告)日: 2016-03-02
发明(设计)人: 石磊 申请(专利权)人: 南通富士通微电子股份有限公司
主分类号: H01L21/683 分类号: H01L21/683;H01L21/68;H01L21/78
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 徐文欣;吴敏
地址: 226006 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 封装 方法
【权利要求书】:

1.一种封装方法,其特征在于,包括:

提供载板,所述载板包括若干芯片区以及位于相邻芯片区之间的切割区, 所述载板包括第一表面;

在所述载板第一表面的切割区内形成若干凹槽;

提供芯片,所述芯片包括相对的功能面和非功能面;

将所述芯片的功能面与载板芯片区的第一表面固定;

在所述载板第一表面和芯片表面形成塑封层;

去除所述载板,所述塑封层的表面暴露出芯片的功能面;

在所述塑封层表面和芯片的功能面形成再布线结构;

对所述塑封层和再布线结构进行切割,使若干芯片相互分立,形成独立 的封装结构。

2.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,将所述芯片的功能面与载板 芯片区的第一表面固定的步骤包括:在所述芯片的功能面粘贴第一粘结层; 将所述第一粘结层与载板芯片区的第一表面相互粘接,以固定芯片的功能 面和载板芯片区的第一表面。

3.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,将所述芯片的功能面与载板 芯片区的第一表面固定的步骤包括:在所述载板的第一表面涂布第二粘结 层;将芯片的功能面粘接于所述第二粘结层表面,并使所述芯片位于载板 芯片区内。

4.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,在所述载板第一表面的切割 区内形成若干凹槽的工艺为激光切割工艺。

5.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,在所述载板第一表面的切割 区内形成若干凹槽的步骤包括:在所述载板的第一表面形成掩膜层,所述 掩膜层暴露出载板的切割区;以所述掩膜层为掩膜,刻蚀所述载板,在所 述载板的第一表面形成凹槽。

6.如权利要求5所述的封装方法,其特征在于,所述刻蚀工艺为干法刻蚀工 艺或湿法刻蚀工艺。

7.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,所述凹槽垂直于载板第一表 面方向的横截面形状为V型或U型;当所述凹槽的横截面形状为V型时, 所述凹槽的底部尺寸小于顶部尺寸,所述凹槽底部具有顶角;当所述凹槽 的横截面形状为U型时,所述凹槽的侧壁垂直于载板的第一表面。

8.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,所述若干芯片区沿第一方向 和第二方向呈阵列排列,所述第一方向和第二方向相互垂直。

9.如权利要求8所述的封装方法,其特征在于,所述凹槽分别平行于第一方 向和第二方向。

10.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,所述芯片的功能面表面暴露 出焊垫。

11.如权利要求10所述的封装方法,其特征在于,所述焊垫表面低于或齐平于 所述芯片的功能面。

12.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,还包括:在去除所述载板之 后,形成所述再布线结构之前,对所述塑封层表面和芯片的功能面进行清 洗。

13.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,所述塑封层还位于所述凹槽 内;在去除所述载板之后,位于所述凹槽内的部分塑封层形成凸起;在形 成所述再布线结构之前,还包括去除所述凸起。

14.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,还包括:在形成所述再布线 结构之前,在所述塑封层表面形成第一绝缘层,所述第一绝缘层内具有暴 露出所述芯片功能区部分表面的第一通孔;在所述第一通孔内以及部分第 一绝缘层表面形成所述再布线结构。

15.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,还包括:形成所述再布线结 构之后,对所述载板、塑封层和再布线结构进行切割之前,在所述再布线 结构表面形成焊球。

16.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于,还包括:在形成所述焊球之 前,在所述再布线结构表面形成第二绝缘层,所述第二绝缘层内具有暴露 出部分再布线结构的第二通孔;在所述第二通孔内形成所述焊球。

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