[发明专利]一种3D定位精度的测试方法和装置有效
申请号: | 201510751038.7 | 申请日: | 2015-11-05 |
公开(公告)号: | CN105427282B | 公开(公告)日: | 2018-07-13 |
发明(设计)人: | 施万海 | 申请(专利权)人: | 浙江宇视科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/60 |
代理公司: | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人: | 林祥 |
地址: | 310051 浙江省杭州市滨江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 云台设备 像素坐标 方法和装置 精度偏差 视频图像 测试 拉框 定位精度误差 区域中心点 用户提供 中心点 分析 | ||
1.一种3D定位精度的测试方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
步骤A、针对待测试的云台设备,获得视频图像中心点的第一像素坐标;
步骤B、当所述云台设备依次对所述视频图像的N个区域进行拉框处理时,在3D定位结束且视频图像聚焦清晰后,获得拉框区域的四边点坐标,并基于该四边点坐标获得拉框区域中心点的第二像素坐标,得到N个第二像素坐标;
步骤C、利用所述第一像素坐标和所述N个第二像素坐标,计算所述云台设备的3D定位精度偏差,并判断所述3D定位精度偏差是否不大于3D定位精度误差分布阈值;如果是,则执行步骤D;如果否,则执行步骤E;
步骤D、确定所述云台设备的3D定位精度合格;
步骤E、确定所述云台设备的3D定位精度不合格。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一像素坐标具体包括第一像素横坐标和第一像素纵坐标,所述第二像素坐标具体包括第二像素横坐标和第二像素纵坐标;所述利用所述第一像素坐标和所述N个第二像素坐标,计算所述云台设备的3D定位精度偏差的过程,具体包括:
利用所述第一像素坐标和所述N个第二像素坐标,计算每个第二像素坐标分别对应的横向偏差和纵向偏差;其中,横向偏差为第二像素横坐标与第一像素横坐标之差,纵向偏差为第二像素纵坐标与第一像素纵坐标之差;
利用如下公式计算横向偏差均值μ1和纵向偏差均值μ2:
利用如下公式计算所述云台设备的3D定位精度偏差:
其中,x1,…,xN分别为所述N个第二像素坐标对应的横向偏差,y1,…,yN分别为所述N个第二像素坐标对应的纵向偏差。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,针对m个待测试的云台设备,所述3D定位精度误差分布阈值的获得过程,具体包括:
针对m个云台设备中的每个云台设备执行步骤A和步骤B,得到M个第二像素横坐标和M个第二像素纵坐标,其中,所述M=m*N;
利用第一像素横坐标和M个第二像素横坐标,计算每个第二像素横坐标分别对应的横向偏差;利用第一像素纵坐标和M个第二像素纵坐标,计算每个第二像素纵坐标分别对应的纵向偏差;其中,横向偏差为第二像素横坐标与第一像素横坐标之差,纵向偏差为第二像素纵坐标与第一像素纵坐标之差;
利用如下公式计算横向偏差均值μ1和纵向偏差均值μ2:
利用如下公式计算所述3D定位精度误差分布阈值:
其中,x1,…,xM分别为所述M个第二像素横坐标对应的横向偏差,y1,…,yM分别为所述M个第二像素纵坐标对应的纵向偏差。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤E之后还包括:
步骤F、判断所述云台设备的校正次数是否已经达到预设次数;如果是,则确定所述云台设备的3D定位精度无法校正;如果否,则执行步骤G;
步骤G、通过机芯中心点校正工具对所述云台设备的3D定位精度进行校正处理,针对校正处理后的云台设备,返回执行所述步骤A。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述视频图像为云台设备采集到的坐标纸的图像;所述拉框处理为3D拉框放大或者3D拉框缩小;
所述获得视频图像中心点的第一像素坐标的过程,具体包括:保持机芯轴线与所述坐标纸垂直,以获得所述视频图像中心点的第一像素坐标。
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