[发明专利]半自动刻标、检测系统及其控制方法有效
申请号: | 201510758030.3 | 申请日: | 2015-11-10 |
公开(公告)号: | CN105818548B | 公开(公告)日: | 2018-02-23 |
发明(设计)人: | 张廷军;齐祖银;谭清友 | 申请(专利权)人: | 重庆依斯普激光技术有限公司 |
主分类号: | B41J3/54 | 分类号: | B41J3/54;B41J2/435;B41J29/00;B41J29/38 |
代理公司: | 深圳市兴科达知识产权代理有限公司44260 | 代理人: | 汪威 |
地址: | 400000 重庆市渝北区*** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半自动 检测 系统 及其 控制 方法 | ||
1.一种半自动刻标、检测系统,其特征在于:包括工件输送机构(1)、检测机构(2)和打标机构(3),所述检测机构(2)与打标机构(3)设置在所述工件输送机构(1)的同侧,且沿送料方向的依次设置,所述工件输送机构(1)上放置有多个用于固定待打标工件的定位工装(4);
其中,所述打标机构(3)包括固定于控制机柜(31)上的滑轨(32),该滑轨(32)沿着送料方向设置,所述滑轨(32)上支撑有第一高度调节机构(33)与第二高度调节机构(34),在所述第一高度调节机构(33)与第二高度调节机构(34)上分别固定有可实现90°旋转的第一激光打标头(35)与第二激光打标头(36),且所述第一激光打标头(35)与第二激光打标头(36)的打标方向相互垂直;
所述工件输送机构(1)包括料道(11),该料道(11)上固定有控制面板(12),在所述料道(11)上设置有可升降的阻挡结构(13),该阻挡结构(13)位于打标机构(3)的两端,该阻挡结构(13)用于在打标开始前对定位工装(4)限位,且与所述待打标工件的端面接触,同时在打标完成后释放定位工装(4);
所述检测机构(2)包括卡规控制柜放置架(21),在该卡规控制柜放置架(21)上靠近所述工件输送机构(1)的一侧设置有用于放置键盘鼠标的键盘鼠标放置柜(22),在所述卡规控制柜放置架(21)的另一侧固定有支架(23),该支架(23)的中部设置有第一显示器安装座(24)与第二显示器安装座(25),该支架(23)的顶部设置有卡规放置架(26),该卡规放置架(26)位于所述键盘鼠标放置柜(22)的上方;
所述定位工装(4)包括底板(41)以及固定在该底板(41)两端的支撑板(42),所述底板(41)支撑在所述工件输送机构(1)上,在所述支撑板(42)的上端开设有“V”字形限位槽(43)。
2.根据权利要求1所述的半自动刻标、检测系统,其特征在于:在所述卡规控制柜放置架(21)的底部设置有防滑垫(27)。
3.根据权利要求1所述的半自动刻标、检测系统,其特征在于:所述第一高度调节机构(33)与第二高度调节机构(34)的顶部均设置有调节手轮(37),通过该调节手轮(37)可实现第一激光打标头(35)与第二激光打标头(36)的高度调节。
4.根据权利要求1所述的半自动刻标、检测系统,其特征在于:所述第一激光打标头(35)位于所述定位工装(4)的前侧,所述第二激光打标头(36)位于所述定位工装(4)的上方。
5.一种如权利要求1所述的半自动刻标、检测系统的控制方法,其特征在于按照以下步骤进行:
步骤1:系统初始化,并设置标准工件的标准参数;
步骤2:调节第一高度调节机构(33)与第二高度调节机构(34)位于滑轨(32)上的位置,使其间距适应待打标工件;
步骤3:通过第一高度调节机构(33)与第二高度调节机构(34),调节第一激光打标头(35)与第二激光打标头(36)的高度,使之与所述待打标工件相适应;
步骤4:开启工件输送结构(1),当所述待打标工件位于检测机构(2)下方时,所述检测机构(2)对待打标工件的尺寸进行检测;
步骤5:所述检测机构(2)将检测所得的工件数据与所述标准参数进行对比,判定该待打标工件是否为合格品;若是则进入步骤6,否则取下工件;
步骤6:通过所述打标机构(3)对判定为合格品的待打标工件进行激光打标,直至所述工件输送机构(1)所有待打标工件完成打标。
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