[发明专利]具有亮点缺陷的像素的修复方法、阵列基板及液晶面板有效
申请号: | 201510760127.8 | 申请日: | 2015-11-10 |
公开(公告)号: | CN105425433B | 公开(公告)日: | 2018-10-30 |
发明(设计)人: | 阙祥灯 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G02F1/1362;H01L27/12 |
代理公司: | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人: | 孙伟峰;武岑飞 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 亮点 缺陷 像素 修复 方法 阵列 液晶面板 | ||
本发明提供了一种具有亮点缺陷的像素的修复方法,其包括:在过孔中打点熔融,使像素电极(113)与薄膜晶体管的漏电极(112b)连接接触;将连续的公共电极(130)切断分离,以使位于开关区域(10a)的公共电极(130)和位于像素区域(10b)的公共电极(130)彼此分离;将位于公共电极(130)的切断分离处之上的像素电极(113)去除,且使位于开关区域(10a)的像素电极(113)和位于像素区域(10b)的像素电极(113)彼此连接。本发明还提供了一种阵列基板及液晶面板。本发明通过将位于开关区域和位于像素区域中的公共电极切断分离,从而消除像素的亮点缺陷,并且将具有亮度缺陷的像素修复成能够正常发光的像素。
技术领域
本发明属于液晶显示技术领域,具体地讲,涉及一种具有亮点缺陷的像素的修复方法、阵列基板及液晶面板。
背景技术
液晶面板上出现的亮点指的是由于薄膜晶体管(TFT)的制程缺陷,导致液晶面板显示时某些像素点(或称像素单元)始终保持单一颜色,这种缺陷是液晶面板中非常难解决的一种瑕疵。
一般情况下,液晶面板上出现至少一个亮点就会被降低等级,而其如果出现至少二十个亮点则会被直接报废。目前,对液晶面板上出现的亮点缺陷的主要解决方法是:将亮点变成暗点。在正常显示下,液晶面板上的暗点的影响要比亮点的影响小很多,但是暗点也是液晶面板上的一种瑕疵。如何将液晶面板上出现的亮点变成正常点,这是目前亟需解决的一个问题。
发明内容
为了解决上述现有技术存在的问题,本发明提供了一种能够将亮点修复为正常点的修复方法、利用该修复方法修复像素亮点的阵列基板以及具有该阵列基板的液晶面板。
根据本发明的一方面,提供了一种具有亮点缺陷的像素的修复方法,所述像素设置在开关区域及位于所述开关区域一侧的像素区域中;
所述像素包括:在所述开关区域和所述像素区域中形成的连续的公共电极;在所述开关区域中形成的且位于所述公共电极之上的薄膜晶体管;在所述开关区域和所述像素区域形成的且覆盖薄膜晶体管的钝化层以及在位于所述开关区域中的所述钝化层中形成的过孔;在所述像素区域和所述开关区域中形成的且位于所述钝化层之上的像素电极;
其中,所述修复方法包括:在所述过孔中打点熔融,使所述像素电极与所述薄膜晶体管的漏电极连接接触;将所述连续的公共电极切断分离,以使位于所述开关区域的公共电极和位于所述像素区域的公共电极彼此分离;将位于所述公共电极的切断分离处之上的像素电极去除,且使位于所述开关区域的像素电极和位于所述像素区域的像素电极彼此连接。
进一步地,在所述过孔中打点熔融的具体方法为:利用激光在所述过孔中打点熔融,使所述像素电极与所述薄膜晶体管的漏电极连接接触。
进一步地,所述公共电极包括:位于所述开关区域的主体部及由所述主体部延伸到所述像素区域中的多条平行的延伸部;其中,将所述连续的公共电极切断分离的具体方法为:利用激光在所述主体部与各所述延伸部的交汇处进行切割,以使所述主体部与各所述延伸部以及各所述延伸部之间相互独立。
进一步地,将位于所述公共电极的切断分离处之上的像素电极去除的具体方法为:将位于所述主体部与各所述延伸部的交汇处之上的像素电极去除。
根据本发明的另一方面,该提供了一种阵列基板,其包括阵列排布的多个像素,所述像素设置在开关区域及位于开关区域一侧的像素区域中;
当所述阵列基板上的所述像素出现亮点缺陷时,所述像素包括:在所述开关区域和所述像素区域中形成的连续的公共电极;在所述开关区域中形成的且位于所述公共电极之上的薄膜晶体管;在所述开关区域和所述像素区域形成的且覆盖薄膜晶体管的钝化层以及在位于所述开关区域中的所述钝化层中形成的过孔;在所述像素区域和所述开关区域中形成的且位于所述钝化层之上的像素电极;
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