[发明专利]SOC芯片的测试方法在审
| 申请号： | 201510800344.5 | 申请日： | 2015-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN105301480A | 公开（公告）日： | 2016-02-03 |
| 发明（设计）人： | 舒鹏 | 申请（专利权）人： | 四川和芯微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610041 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | soc 芯片 测试 方法 | ||
1.一种SOC芯片的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
a.编写对应的测试程序，并初始化测试环境；
b.加载测试程序至中央处理器；
c.测试数据发生器根据加载的测试程序在系统函数库中调用对应的系统函数并生成测试事务列表；
d.根据事务列表测试待测SOC芯片；
e.判断待测SOC芯片的测试覆盖率。
2.如权利要求1所述的SOC芯片的测试方法，其特征在于，所述步骤初始化测试环境具体为，根据设计文档和USB3.0协议初始化待测SOC芯片中的寄存器，且根据设计文档和USB3.0协议配置测试程序的描述符。
3.如权利要求2所述的SOC芯片的测试方法，其特征在于，所述描述符包括系统描述符、设备描述符及中断描述符。
4.如权利要求1所述的SOC芯片的测试方法，其特征在于，所述测试程序内的变量名及函数名的命名规则符合统一的规则。
5.如权利要求4所述的SOC芯片的测试方法，其特征在于，所述统一的规则包括微软命名规则与linux命名规则。
6.如权利要求1所述的SOC芯片的测试方法，其特征在于，所述测试事务列表为能被VMM结构的功能层识别的事务列表。
7.如权利要求1所述的SOC芯片的测试方法，其特征在于，在所述中央处理器内预设有设定阈值，所述步骤判断待测SOC芯片的测试覆盖率具体为：
当覆盖率小于设定阈值时重复步骤b-d；
当覆盖率大于或等于设定阈值时，结束测试。
8.如权利要求1所述的SOC芯片的测试方法，其特征在于，所述测试程序、系统函数库均预先存储于一固定存储设备中。
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