[发明专利]SOC芯片的测试方法在审

专利信息
申请号: 201510800344.5 申请日: 2015-11-19
公开(公告)号: CN105301480A 公开(公告)日: 2016-02-03
发明(设计)人: 舒鹏 申请(专利权)人: 四川和芯微电子股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610041 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: soc 芯片 测试 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及测试验证领域,更具体地涉及一种SOC芯片的测试方法及测试系统。

背景技术

SOC芯片设计完后最重要的环节在于验证,验证的主要任务是确保SOC芯片符合设计要求,保证设计的正确性。

在小规模SOC芯片的验证方法中,基本上都是先设定固定的场景,再在固定场景中产生激励信号,再将激励信号直接灌入进DUT(待测设备)中,然后通过芯片端口来检查芯片功能是否正确。这种直接向量测试(DirectVectorTest)运用在小的系统的中,能获得不错的覆盖率。

而在中大规模SOC芯片的验证方法中,目前常用的验证方法是VMM(VerificationMethodologyManual)。它是一种事务级(TransactionLevel)的验证方法。VMM验证系统的架构如图1所示,通过配置生成器和驱动器的约束条件来约束生成器产生测试数据,然后将测试数据灌入DUT中,并通过检查器对结果进行自动比较。VMM验证方法可以实现受约束的随机验证(CRV,ConstrainedRandomVerification)。CRV是一种在设定的约束条件下进行随机的方法,它可以覆盖很多测试案例,特别是直接向量测试不能包含的那些意外的测试案例。测试结束的条件是以覆盖率检查器输出的覆盖率来确定的。当功能覆盖率、代码覆盖率均达到测试开始前设定的阈值以后停止随机验证。在自动比较过程中,如果遇到错误,则会在输出测试文件中打印出错误信息并停止仿真。VMM验证方法由于采用了继承基类的方式来扩展事务,所以VMM验证方法具有很好的移植性。而且可以在测试结果文件中实时地查看当前仿真进度。VMM验证方法实现了验证方法从信号级向事务级的转变,这大大简易了中大规模的SOC芯片的验证。

但是,直接向量测试(directvectortest)验证方法要求事先必须设计出芯片的各种工作场景,验证人员需要直接处理非常低层次的信号级信息。采用这种验证方法,验证人员工作量很大,并且一些意外场景、错误处理场景不可能一一考虑和验证到,很容易导致验证不全面。而VMM验证方法的数据交互和控制比较复杂,对多媒体芯片来说,操作待验证SOC芯片的方法相当复杂,不方便控制仿真流程,易用性低,而且因为其无法加入设备驱动,故无法验证复杂的应用场景和升级成系统级验证。

因此,有必要提供一种改进的SOC芯片测试方法来克服上述缺陷。

发明内容

本发明的目的是提供一种SOC芯片的测试方法,本发明的SOC芯片的测试方法能够很好地帮助验证工程师针对SOC芯片进行测试验证。在本发明实施例中验证工程师并不需要了解底层硬件的具体实施,验证工程师所编写的系统测试程序能够很好地移植到其它项目中,简化了测试过程,通用性强。

为实现上述目的,本发明提供了一种SOC芯片的测试方法,其包括以下步骤:a.编写对应的测试程序,并初始化测试环境;b.加载测试程序至中央处理器;c.测试数据发生器根据加载的测试程序在系统函数库中调用对应的系统函数并生成测试事务列表;d.根据事务列表测试待测SOC芯片;e.判断待测SOC芯片的测试覆盖率。

较佳地,所述步骤初始化测试环境具体为,根据设计文档和USB3.0协议初始化待测SOC芯片中的寄存器,且根据设计文档和USB3.0协议配置测试程序的描述符。

较佳地,所述描述符包括系统描述符、设备描述符及中断描述符。

较佳地,所述测试程序内的变量名及函数名的命名规则符合统一的规则。

较佳地,所述统一的规则包括微软命名规则与linux命名规则。

较佳地,所述测试事务列表为能被VMM结构的功能层识别的事务列表。

较佳地,在所述中央处理器内预设有设定阈值,所述步骤判断待测SOC芯片的测试覆盖率具体为:当覆盖率小于设定阈值时重复步骤b-d;当覆盖率大于或等于设定阈值时,结束测试。

较佳地,所述测试程序、系统函数库均预先存储于一固定存储设备中。

与现有技术相比,本发明的SOC芯片的测试方法由于采用了抽象化的事物列表来随机产生测试数据能够很好地帮助验证工程师针对SOC设计系统进行验证,验证工程师可以用灵活的高级语言如C/C++来编写测试程序,且在本发明实施例中验证工程师并不需要了解底层硬件的具体实施,从而验证工程师所编写的测试程序能够很好地移植到其它项目中。

通过以下的描述并结合附图,本发明将变得更加清晰,这些附图用于解释本发明的实施例。

附图说明

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