[发明专利]磁性位置检测装置有效
申请号: | 201510800413.2 | 申请日: | 2015-11-19 |
公开(公告)号: | CN105651316B | 公开(公告)日: | 2019-09-03 |
发明(设计)人: | 鸳海幸一郎;田中哲;大友健太郎 | 申请(专利权)人: | 村田机械株式会社 |
主分类号: | G01D5/243 | 分类号: | G01D5/243 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 夏斌 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁性 位置 检测 装置 | ||
本发明提供一种磁性位置检测装置(1),具备轴(20)、滑块(10)、磁检测部(40)以及位置检测部(70)。轴沿水平方向延伸,在轴向上交替排列有N极(20a)和S极(20b)。滑块配置成相对于轴能够沿轴向相对移动。磁检测部安装于滑块,包括对轴产生的磁通进行检测的第一磁元件(41)以及第二磁元件(42)。位置检测部基于第一磁元件以及第二磁元件各自的检测值对滑块相对于轴的位置进行检测。第一磁元件以及第二磁元件在与轴向正交的假想平面(F)上,以隔着轴的方式分别配置于由穿过轴的中心线(CL)的铅垂线(VL)以及水平线(HL)划分的区域中的相互不邻接的第一区域(R1)以及第二区域(R2)。
技术领域
本发明涉及一种磁性位置检测装置。
背景技术
作为现有的磁性位置检测装置,已知有一种磁性位置检测装置,具备:沿水平方向延伸的轴;能够相对于轴沿轴的轴向相对移动的滑块;对轴产生的磁通进行检测的磁元件;以及基于磁元件的检测值,对滑块相对于轴的位置进行检测的位置检测部。在这样的磁性位置检测装置中,为了补偿轴朝铅垂方向的振动(挠曲以及/或者摆动)所造成的影响,有时在轴的正上方以及正下方分别配置有磁元件(例如,参照日本实开平2-14016号公报)。
在上述那样的磁性位置检测装置中,轴不仅沿铅垂方向而且还沿水平方向振动,因此由于轴朝铅垂方向以及水平方向的振动(挠曲以及/或者摆动),滑块相对于轴的位置的检测精度有可能降低。
发明内容
因此,本发明的目的在于提供一种磁性位置检测装置,能够高精度地检测滑块相对于轴的位置。
本发明的磁性位置检测装置具备:轴,沿水平方向延伸,在轴向上交替排列有N极和S极;滑块,配置成能够相对于轴沿轴向相对移动;磁检测部,安装于滑块,包括对轴产生的磁通进行检测的第一磁元件以及第二磁元件;以及位置检测部,基于第一磁元件以及第二磁元件各自的检测值,对滑块相对于轴的位置进行检测,第一磁元件以及第二磁元件在与轴向正交的假想平面上,以隔着轴的方式分别配置于由穿过轴的中心线的铅垂线以及水平线划分的区域中、相互不邻接的第一区域以及第二区域。
在该构成的磁性位置检测装置中,第一磁元件以及第二磁元件在与轴的轴向正交的假想平面上,隔着轴以及穿过轴的中心线的水平线配置。因此,在轴相对于第一磁元件以及第二磁元件朝铅垂方向振动的情况下,一方的磁元件检测到的磁通减弱,另一方的磁元件检测到的磁通增强。即,第一磁元件以及第二磁元件分别检测到的检测值的例如加法值成为恒定。如此使用恒定的加法值来检测滑块的位置,因此能够补偿轴相对于第一磁元件以及第二磁元件的铅垂方向的振动。此外,在该构成的磁性位置检测装置中,在上述假想平面上第一磁元件以及第二磁元件隔着轴以及穿过轴的中心线的铅垂线配置。因此,在轴相对于第一磁元件以及第二磁元件朝水平方向振动的情况下,一方的元件检测到的磁通减弱,另一方的元件检测到的磁通增强。即,第一磁元件以及第二磁元件分别检测到的检测值的例如加法值成为恒定。如此使用恒定的加法值来检测滑块的位置,因此能够补偿轴相对于第一磁元件以及第二磁元件朝水平方向的振动。通过这些作用,即便轴由于挠曲以及/或者摆动而相对于第一磁元件以及第二磁元件朝铅垂方向以及/或者水平方向振动,也能够补偿该振动。结果,能够高精度地检测滑块相对于轴的位置。
在本发明的磁性位置检测装置中,也可以为,滑块具有:框体,具有供轴隔着间隙配置的孔部;以及线圈,收纳于框体,通过轴以及线圈的磁的相互作用,滑块能够沿轴向移动,第一磁元件以及第二磁元件以从线圈朝轴向偏移的状态安装于框体。
根据该构成,能够利用通过在线圈中流动电流而产生的磁场来驱动滑块。因此,无需另行设置用于使滑块移动的驱动部,就能够使滑块相对于轴相对地移动。此外,第一磁元件以及第二磁元件以从线圈朝轴向偏移的状态安装于框体,因此能够降低从线圈产生的磁通(漏磁通)的影响。由此,能够提高磁性位置检测装置的分辨率。
在本发明的磁性位置检测装置中,也可以为,在从轴向观察的情况下,第一磁元件以及第二磁元件配置于框体的外形的内侧。
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