[发明专利]电子芯片的测试系统、方法及装置

权利要求书

1.一种电子芯片的测试系统，其特征在于，包括：

计算机，通过数据接口与待测芯片相连接，用于识别所述待测芯片的显示参 数，生成与所述显示参数相匹配的测试图像，并将所述测试图像发送至所述待测 芯片，其中，所述测试图像为用于测试所述待测芯片的图像；以及

控制器，与所述待测芯片相连接，用于对所述待测芯片利用所述测试图像进 行测试的过程进行控制，并检测所述待测芯片的测试结果。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：

芯片探测电路，分别与所述待测芯片、所述数据接口相连接，用于识别所述 待测芯片输出的电平信号，并在所述待测芯片初始化成功输出高电平时，通过所 述数据接口向所述计算机发送芯片探测信号，其中，所述芯片探测信号为用于通 知所述计算机存在所述待测芯片的信号。

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述控制器与所述芯片探测电路相连 接，用于在更换待测芯片时控制所述芯片探测电路持续地向所述计算机输出所述 芯片探测信号。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：

信号接口，所述计算机通过所述信号接口识别所述待测芯片的显示参数，并 对与所述待测芯片之间的通信链路进行链路调训。

5.一种电子芯片的测试方法，其特征在于，包括：

计算机识别待测芯片的显示参数；

所述计算机生成与所述显示参数相匹配的测试图像，其中，所述测试图像为 用于测试所述待测芯片的图像；以及

所述计算机将所述测试图像发送至所述待测芯片，其中，所述待测芯片利用 所述测试图像进行测试。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，计算机在识别待测芯片的显示参数之 前，所述方法还包括：

所述计算机检测是否接收到芯片探测电路输出的芯片探测信号，其中，所述 芯片探测电路在检测到所述待测芯片初始化成功输出高电平时向所述计算机发送 所述芯片探测信号，所述芯片探测信号为用于通知所述计算机存在所述待测芯片 的信号，

其中，所述计算机在检测到接收到所述芯片探测电路输出的所述芯片探测信 号时，识别所述待测芯片的显示参数。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述芯片探测电路输出所述芯片探测 信号的条件包括以下任意一种条件：

所述芯片探测电路检测到所述待测芯片初始化成功后输出的高电平；

所述芯片探测电路检测到控制器发送的控制信号，其中，所述控制信号为在 所述控制器检测到需要更换待测芯片时向所述芯片探测电路发送的，用于控制所 述芯片探测电路持续地输出所述芯片探测信号的信号。

8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，计算机在识别待测芯片的显示参数之 后，所述方法还包括：

所述计算机对与所述待测芯片之间的通信链路进行链路调训，

其中，在所述通信链路调训成功时，所述计算机利用所述通信链路将所述测 试图像发送至所述待测芯片。

9.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述计算机在生成与所述显示参数相 匹配的测试图像的同时，所述方法还包括：

所述计算机调整所述测试图像的分辨率；

所述计算机调整所述测试图像的输出模式。

10.一种电子芯片的测试装置，其特征在于，包括：

识别模块，用于计算机识别待测芯片的显示参数；

生成模块，用于所述计算机生成与所述显示参数相匹配的测试图像，其中， 所述测试图像为用于测试所述待测芯片的图像；以及

发送模块，用于所述计算机将所述测试图像发送至所述待测芯片，其中，所 述待测芯片利用所述测试图像进行测试。