[发明专利]压接高度测定装置和压接高度测定方法

权利要求书

1.一种压接高度测定装置，其特征在于，包括：

压电元件，其设置于在压接机和砧之间进行将端子与电线压接的 压接动作来制作压接端子的端子压接装置，并在所述压接动作中根据 所述压接机和所述砧附加在所述端子的负荷的变化来产生电荷；

负荷检测部，其将由所述压电元件产生的所述电荷转换为电压， 将转换的所述电压的时间推移输出作为所述压接动作中的所述负荷的 时间推移即负荷波形；

负荷波形校正部，其校正从所述负荷检测部输出的所述负荷波形 并输出已校正负荷波形；

峰值负荷算出部，其根据由所述负荷波形校正部校正的所述已校 正负荷波形，算出在所述压接动作中附加在所述端子的所述负荷的最 大值即峰值负荷；以及

压接高度算出部，其基于由所述峰值负荷算出部算出的所述峰值 负荷，算出由所述端子压接装置制作的所述压接端子的压接高度，

所述负荷检测部包含放大电路，所述放大电路具有电容和电阻， 将所述压电元件所产生的所述电荷充电到所述电容，根据充电到所述 电容的电荷来输出所述电压，并且利用所述电阻来使充电到所述电容 的所述电荷放电，

所述负荷波形校正部基于由所述负荷检测部的所述电容的电容 量、和所述电阻的电阻值决定的所述放大电路的放电时间常数，来校 正所述负荷波形。

2.如权利要求1所述的压接高度测定装置，

在所述已校正负荷波形的第n要素表示为ADi(n)，所述负荷波形 的第n要素表示为ADo(n)，所述电容的电容量表示为C，所述电阻的 电阻值表示为R，采样周期表示为Δt时，所述负荷波形校正部使用下 述的数式来校正所述负荷波形并输出所述已校正负荷波形：

[式]

3.如权利要求1或2所述的压接高度测定装置，在所述压接高度 表示为CH，所述峰值负荷表示为P，常数表示为a、b时，所述压接高 度算出部使用下述的数式来算出所述压接高度：

CH＝a×P+b。

4.如权利要求3所述的压接高度测定装置，

所述端子压接装置的所述压接机构成为与压头连结，并与该压头 一起相对于所述砧进行升降，在下止点将所述砧上的所述端子压紧在 所述电线的芯线，从而制作所述压接端子，

在所述端子和所述电线不存在时下降到所述下止点的所述压接机 与所述砧在压接机升降方向的间隔表示为b，所述压头的下止点位置表 示为DP，常数表示为c时，所述压接高度算出部使用下述的数式来算 出所述压接高度：

CH＝a×P+b

b＝DP+c。

5.如权利要求1～4的任一项所述的压接高度测定装置，

包括压接状态判定部，通过将由所述压接高度算出部算出的所述 压接高度、与预定的压接高度容许上限值和压接高度容许下限值中的 至少一个比较，从而判定由所述端子压接装置制作的所述压接端子的 压接状态的好坏。