[发明专利]压接高度测定装置和压接高度测定方法

说明书

技术领域

本发明涉及压接高度测定装置和压接高度测定方法。

背景技术

在将端子压接在电线来制作压接端子时，作为判断压接端子的压 接状态适合与否的指标之一，使用压接高度。压接高度是压紧并压接 在电线芯线的压接端子的高度尺寸。在压接高度太大的情况下，压接 端子相对于芯线未充分压紧，有的情况下会在压接端子与电线之间产 生导通不良。另一方面，在压接高度太小的情况下，有的情况下芯线 会由于压紧的压接端子而切断并在电线产生断线不良。

上述压接端子的制作多使用端子压接装置。端子压接装置是利用 压接机相对于砧的升降，使载放在砧上的端子与电线的芯线压紧并压 接的装置。在使用这样的端子压接装置的压接端子的制作过程中，用 手工作业来实测所述压接高度时，难以连续定量地测定各压接端子的 压接高度。因此，例如专利文献1公开了如下方法：检测在端子压接 装置中将端子压接在电线时的峰值负荷，使用表示该峰值负荷与压接 高度的比例关系的关系式，通过计算来测定压接高度。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开2014-22053号公报

发明内容

本发明欲解决的问题

然而，专利文献1所公开的以往的基于峰值负荷的压接高度的算 出方法在提高压接高度的测定精度方面存在进一步改善的余地。

本发明是鉴于上述情况而完成的，其目的在于提供一种压接高度 测定装置和压接高度测定方法，能够提高基于峰值负荷的压接高度的 测定精度。

用于解决问题的方案

为解决上述问题，本发明的压接高度测定装置的特征在于，包括： 压电元件，其设置于在压接机和砧之间进行将端子与电线压接的压接 动作来制作压接端子的端子压接装置，在所述压接动作中根据所述压 接机和所述砧附加在所述端子的负荷的变化来产生电荷；负荷检测部， 其将由所述压电元件产生的所述电荷转换为电压，将转换的所述电压 的时间推移输出作为所述压接动作中的所述负荷的时间推移即负荷波 形；负荷波形校正部，其校正从所述负荷检测部输出的所述负荷波形 并输出已校正负荷波形；峰值负荷算出部，其根据由所述负荷波形校 正部校正的所述已校正负荷波形，算出在所述压接动作中附加在所述 端子的所述负荷的最大值即峰值负荷；以及压接高度算出部，其基于 由所述峰值负荷算出部算出的所述峰值负荷，算出由所述端子压接装 置制作的所述压接端子的压接高度，所述负荷检测部包含放大电路， 所述放大电路具有电容和电阻，将所述压电元件所产生的所述电荷充 电到所述电容，根据充电到所述电容的电荷来输出所述电压，并且利 用所述电阻来使充电到所述电容的所述电荷放电，所述负荷波形校正 部基于由所述负荷检测部的所述电容的电容量、和所述电阻的电阻值 决定的所述放大电路的放电时间常数，来校正所述负荷波形。

另外，所述压接高度测定装置中优选的是，在所述已校正负荷波 形的第n要素表示为ADi(n)，所述负荷波形的第n要素表示为ADo(n)， 所述电容的电容量表示为C，所述电阻的电阻值表示为R，采样周期表 示为Δt时，所述负荷波形校正部使用下述的数式来校正所述负荷波形 并输出所述已校正负荷波形。

[式1]

ADi(n)=ADo(n)+ΔtC·RΣj=1nADo(j)]]>