[发明专利]固化度测定装置及固化度测定方法有效

专利信息
申请号: 201510834232.1 申请日: 2015-11-25
公开(公告)号: CN105675552B 公开(公告)日: 2020-03-06
发明(设计)人: 古贺晶子 申请(专利权)人: NOK株式会社
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 北京思益华伦专利代理事务所(普通合伙) 11418 代理人: 郭红丽
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 固化 测定 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种固化度测定装置,其特征在于,包括:

照射部,其向固化度测定样品的粘接剂部位照射紫外线或可见光线;

探针,其输入了接受由所述照射部照射的紫外线或可见光线而发光的荧光;

读取部,其从自所述探针导入的荧光读取荧光光谱数据;

峰顶波长计算部,其根据由该读取部读取的所述荧光光谱数据而计算峰顶波长;

固化度计算部,其根据由该峰顶波长计算部算出的峰顶波长而计算固化度,

其中,由所述峰顶波长计算部计算固化前的固化度0%的测定样品的峰顶波长和完全固化后的固化度100%的测定样品的峰顶波长,

由所述固化度计算部求得所述各个峰顶波长和固化度的下述关系式(1),

在此,A为未知的样品的峰顶波长(nm),X0%为固化度0%的样品的峰顶波长(nm),X100%为固化度100%的样品的峰顶波长(nm),

将硬度未知的固化度测定样品的峰顶波长导入所述关系式(1),计算与该峰顶波长对应的所述样品的固化度。

2.一种固化度测定方法,其特征在于,

从照射部向固化度测定样品的粘接剂部位照射紫外线或可见光线,

接着,向探针输入接受所照射的紫外线或可见光线而发光的荧光,

接着,由读取部从自所述探针导入的荧光读取荧光光谱数据,

接着,根据所读取的所述荧光光谱数据,由峰顶波长计算部计算固化前的固化度0%的测定样品的峰顶波长和完全固化后的固化度100%的测定样品的峰顶波长,

由固化度计算部求得所述各个峰顶波长和固化度的下述关系式(1),

在此,A为未知的样品的峰顶波长(nm),X0%为固化度0%的样品的峰顶波长(nm),X100%为固化度100%的样品的峰顶波长(nm),

将硬度未知的固化度测定样品的峰顶波长导入所述关系式(1),计算与该峰顶波长对应的所述样品的固化度。

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