[发明专利]固化度测定装置及固化度测定方法

说明书

本发明涉及固化度测定装置及固化度测定方法。其消除了像IR那样的读取基材峰值的不确定性的现有技术问题且不需要样品收集，可以无破坏地测定粘接剂的固化度。固化度测定装置具备向固化度测定样品的粘接剂部位照射紫外线或可见光线的照射部、输入接受紫外线或可见光线而发光的荧光的探针、从探针导入的荧光读取荧光光谱数据的读取部、根据该数据计算峰顶波长的峰顶波长计算部和根据峰顶波长计算固化度的固化度计算部，由峰顶波长计算部计算固化前固化度0％和完全固化后固化度100％的测定样品的峰顶波长，由固化度计算部求得各峰顶波长和固化度的关系式，将硬度未知的固化度测定样品的峰顶波长导入关系式，计算与该峰顶波长对应的样品固化度。

技术领域

本发明涉及利用荧光测定固化型粘接剂的固化度的固化度测定装置及固化度测定方法。

背景技术

作为测定粘接剂的固化度的方法，已提出使用FT－IR的方法(专利文献1～3)或使用DSC的方法(专利文献4、5)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：(日本)特开昭62－103540号公报

专利文献2：(日本)特开2007－137041号公报

专利文献3：(日本)特开2007－248431号公报

专利文献4：(日本)特开2005－26234号公报

专利文献5：(日本)特开2012－54582号公报

专利文献6：(日本)特开2013－160753号公报

专利文献1～3的方法可监视伴随粘接剂的固化的化学结构的变化，是有用的方法，但需要对每一材料读取FT－IR的峰值，考察哪个峰值发生了变化。

另外，如果是像粘接剂那样薄的膜，有时还读取了基材的峰值，有时也使关键的粘接剂的峰值的读取变得困难。

在专利文献4、5的方法中，即使使用高感度的DSC也需要1mg的样品，因此通用性低。例如，在测定产品上的粘接剂的固化度时等，必须从完全粘接在一起的基材收集1mg的样品，而不能容易地实施。在专利文献6中，照射紫外线、测定固化度，但要根据荧光量进行监视。但是，荧光量也依存于膜厚。因此，要想正确地判断固化度就需要膜厚均匀。

发明内容

本发明的课题在于，提供新型的固化度测定装置及固化度测定方法，其消除了现有技术的问题，即，消除了像IR那样的读取基材峰值的不确定性，而且不需要样品的收集，可以无破坏地测定粘接剂的固化度。另外，由于是按照荧光的峰顶波长(ピークトップ波長)确认固化度，因此即使在粘接剂的膜厚参差不齐的情况下也可以测定固化度。

另外，本发明的另一课题，通过以下的记载即可知晓。

用于解决课题的技术方案

上述课题通过以下的各发明来解决。

(第一方面)

提供一种固化度测定装置，其具备：

照射部，其向固化度测定样品的粘接剂部位照射紫外线或可见光线；

探针，其输入了接受由所述照射部照射的紫外线或可见光线而发光的荧光；

读取部，其从自所述探针导入的荧光读取荧光光谱数据；

峰顶波长计算部，其根据由该读取部读取的所述荧光光谱数据而计算峰顶波长；

固化度计算部，其根据由该峰顶波长计算部算出的峰顶波长而计算固化度，

其中，由所述峰顶波长计算部计算固化前的固化度0％的测定样品的峰顶波长和完全固化后的固化度100％的测定样品的峰顶波长，