[发明专利]用于确定磁共振设备的基本匀场设置的方法有效

专利信息
申请号: 201510835573.0 申请日: 2015-11-26
公开(公告)号: CN105652226B 公开(公告)日: 2019-04-05
发明(设计)人: A.杜德尼 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01R33/3873 分类号: G01R33/3873;G01R33/3875
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 熊雪梅;冯欢
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 确定 磁共振 设备 基本 设置 方法
【权利要求书】:

1.一种用于确定磁共振设备的基本匀场设置的方法,其中,所述基本匀场设置包括多个匀场元件的空间分布,包括以下方法步骤:

-建立优化函数,所述优化函数包括多个优化参数,其中,多个优化参数的第一优化参数包括磁共振设备中的借助基本匀场设置所设置的B0分布的均匀性值并且多个优化参数的第二优化参数包括作用于所述多个匀场元件的力的值,其中第一优化参数和第二优化参数加权地代入优化函数,

-将所述多个匀场元件的空间分布计算为使得优化函数在同时考虑第一优化参数和第二优化参数的条件下被最小化,和

-在使用所计算的多个匀场元件的空间分布的条件下确定磁共振设备的基本匀场设置。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第二优化参数包括作用于所述多个匀场元件的轴向力的值,其中,所述轴向力在磁共振设备的主磁场的方向上起作用。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第二优化参数包括在计算多个匀场元件的空间分布的情况下轴向总力的值的最小化,该总力作用于磁共振设备的所有匀场元件。

4.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中,多个优化参数的第三优化参数包括在计算多个匀场元件的空间分布的情况下磁共振设备的所有匀场元件的总质量的最小化,其中,在计算多个匀场元件的空间分布的情况下,优化函数在考虑第三优化参数的条件下被最小化。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中,所述基本匀场设置包括至少一个恒定的匀场电流的值,该匀场电流流过磁共振设备的梯度线圈,其中,所述多个优化参数的第四优化参数包括在计算多个匀场元件的空间分布的情况下至少一个匀场电流的值的最小化,其中,在计算多个匀场元件的空间分布的情况下优化函数在考虑第四优化参数的条件下被最小化,并且在使用所述至少一个匀场电流的条件下进行磁共振设备的基本匀场设置的确定。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中,多个优化参数的第五优化参数包括在计算多个匀场元件的空间分布的情况下对所述多个匀场元件的温度影响的总效果的最小化,其中,在计算所述多个匀场元件的空间分布的情况下优化函数在考虑第五优化参数的条件下被最小化。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中,所述磁共振设备具有多个匀场袋,在这些匀场袋中布置多个匀场元件,其中,多个优化参数的第六优化参数包括在计算多个匀场元件的空间分布的情况下作用于多个匀场袋中的一个匀场袋的匀场元件的最大力的值的最小化,其中,在计算多个匀场元件的空间分布的情况下优化函数在考虑第六优化参数的条件下被最小化。

8.一种用于确定磁共振设备的基本匀场设置的匀场设置确定单元,其中,所述匀场设置确定单元包括优化单元、计算单元和确定单元,其中,所述匀场设置确定单元被构造为,用于执行根据上述权利要求中任一项所述的方法。

9.一种电子可读的数据载体,在其上存储有计算机程序产品,其能够直接加载到根据权利要求8所述的匀场设置确定单元的可编程的计算模块的存储器中并且具有程序代码装置,用于当计算机程序产品在计算模块中运行时执行根据权利要求1至7中任一项所述的方法。

10.一种磁共振设备,包括具有多个匀场元件的匀场单元,其中,磁共振设备中的多个匀场元件的空间分布根据借助根据上述权利要求1至7中任一项所述的方法确定的基本匀场设置来确定。

11.一种系统,包括根据权利要求10所述的磁共振设备和根据权利要求8所述的匀场设置确定单元。

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