[发明专利]用于确定磁共振设备的基本匀场设置的方法有效

专利信息
申请号: 201510835573.0 申请日: 2015-11-26
公开(公告)号: CN105652226B 公开(公告)日: 2019-04-05
发明(设计)人: A.杜德尼 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01R33/3873 分类号: G01R33/3873;G01R33/3875
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 熊雪梅;冯欢
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 确定 磁共振 设备 基本 设置 方法
【说明书】:

发明涉及用于确定磁共振设备的基本匀场设置的方法,还涉及计算单元、计算机程序产品、磁共振设备和系统。为了改进磁共振设备的基本匀场设置的计算,提出了用于确定磁共振设备的基本匀场设置的方法,基本匀场设置包括多个匀场元件的空间分布,包括以下方法步骤:‑建立优化函数,其包括多个优化参数,其中多个优化参数的第一优化参数包括磁共振设备中的借助基本匀场设置所设置的B0分布的均匀性值并且多个优化参数的第二优化参数包括作用于多个匀场元件的力的值,‑计算多个匀场元件的空间分布,使得优化函数在考虑第一优化参数和第二优化参数的条件下被最小化,和‑在使用所计算的多个匀场元件的空间分布的条件下确定磁共振设备的基本匀场设置。

技术领域

本发明涉及一种用于确定磁共振设备的基本匀场设置的方法、一种计算单元、一种计算机程序产品、一种磁共振设备和一种系统。

背景技术

在磁共振设备,也称为磁共振断层成像系统中,通常借助主磁体使检查人员,特别是患者的待检查的身体置于相对高的主磁场,例如1.5或3或7特斯拉的主磁场。附加地借助梯度线圈单元发射梯度脉冲。然后通过高频天线单元借助合适的天线装置发射高频脉冲,特别是激励脉冲,这导致了,特定的、通过该高频脉冲共振地激励的原子的核自旋以定义的翻转角相对于主磁场的磁力线翻转。在核自旋弛豫(Relaxation)时发射高频信号,即所谓的磁共振信号,借助合适的高频天线接收并且然后进一步处理该磁共振信号。最后从这样获取的原始数据中可以重建期望的图像数据。

因此对于特定的测量发射特定的磁共振序列,也称为脉冲序列,其由高频脉冲(特别是激励脉冲和重聚焦脉冲)以及与之相适应地协调地待发射的、在沿着不同的空间方向的不同的梯度轴上的梯度脉冲的序列组成。与之时间上相适应地设置读取窗,其预先给定采集感应出的磁共振信号的时间段。

在借助磁共振设备的磁共振成像的情况下在检查体积中的主磁场的均匀性是有重要意义的。在均匀性的小的偏差的情况下已经能够导致在核自旋的频率分布中的大的偏差,从而拍摄劣质的磁共振图像数据。

为了改善检查体积中的均匀性,磁共振设备典型地具有匀场单元(Shimeinheit)。该匀场单元由此特别地具有多个匀场元件。如果将磁共振设备安装在其特定位置处,则在周围存在的场可以,特别是围绕磁共振设备的等中心,限制主磁场的均匀性。因此在安装和启动磁共振设备时,通常结合测量,将匀场单元设置为,建立尽可能优化的均匀性。由此可以对于磁共振设备的安装和启动,确定基本匀场设置。基本匀场设置由此特别地包括匀场单元的设置。在此典型地,在安装和启动磁共振设备时确定基本匀场设置。

发明内容

本发明要解决的技术问题是,提供磁共振设备的基本匀场设置的对整个磁共振设备最优的确定。上述技术问题通过按照本发明的特征来解决。在从属权利要求中描述了优选的实施。

按照本发明的用于确定磁共振设备的基本匀场设置的方法,其中基本匀场设置包括多个匀场元件的空间分布,包括以下方法步骤:

-列出优化函数,其包括多个优化参数,其中多个优化参数的第一优化参数包括磁共振设备中的借助基本匀场设置所设置的B0分布的均匀性值并且多个优化参数的第二优化参数包括作用于多个匀场元件的力的值,

-将多个匀场元件的空间分布计算为使得优化函数在考虑第一优化参数和第二优化参数的条件下被最小化,和

-在使用所计算的多个匀场元件的空间分布的条件下确定磁共振设备的基本匀场设置。

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