[发明专利]一种提高场发射性能的N掺杂SiC纳米线的制备方法在审
申请号: | 201510853484.9 | 申请日: | 2015-11-28 |
公开(公告)号: | CN105355521A | 公开(公告)日: | 2016-02-24 |
发明(设计)人: | 李镇江;宋冠英;孟阿兰;马凤麟;张栋梁 | 申请(专利权)人: | 青岛科技大学 |
主分类号: | H01J1/304 | 分类号: | H01J1/304;H01J19/24;C01B31/36;B82Y30/00;B82Y40/00 |
代理公司: | 青岛中天汇智知识产权代理有限公司 37241 | 代理人: | 万桂斌 |
地址: | 266000 山东省青*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 发射 性能 掺杂 sic 纳米 制备 方法 | ||
技术领域
本发明属于纳米材料制备与应用技术领域,涉及利用NH3对SiC纳米线进行掺氮,以提高其场发射性能的方法。
背景技术
近些年,开发具有实际应用价值的场发射阴极材料一直是研究的热点。SiC纳米线是一种极具应用潜力的场发射冷阴极材料,在新一代真空管、电镜电子枪及场发射平板显示等领域具有良好的应用前景。场发射是电子克服材料表面的势垒逸出到真空中的过程,低的开启电场(场发射电流密度为10μA/cm2所需的电场)和阈值电场(场发射电流密度为10mA/cm2所需的电场)、良好的场发射稳定性等是体现场电子发射性能优劣的重要指标。SiC纳米线相比其他场发射材料,具有开启电场低、场发射电流密度大等优点。但是,目前所得的纯SiC纳米线的开启电场一般都大于3V/μm(MengA.L.,ZhangM.,ZhangJ.L.,LiZ.J..Cryst.Eng.Comn.2012,14:6755.),相当于在阴阳级的间距在1mm时,需要3000V的高压才能使阴极材料开启场电子发射,要获得大的场发射电流,就需要更大的工作电压了。因此,为使SiC纳米线能真正应用于场发射阴极材料,需要通过一定的途径进一步降低其工作电压。相比于特殊形貌及材料复合对SiC纳米线场发射性能的改善,元素掺杂普遍被认为是一种更加简单易行的途径。通过对SiC进行n型和p型掺杂可以改变SiC能带结构及载流子的传输机制,从而提高其场发射性能。对于SiC的p型掺杂,主要的掺杂元素是B或Al。Zhang等人采用聚硅氮烷为原料,Al(NO3)3作为掺杂剂,在1550℃制备了Al掺杂SiC纳米线,并测得其开启电场为1V/μm(ZhangX.N.,ChenY.Q.,XieZ.P.,Yang,W.Y..J.Phys.Chem.C2010,114:8251.);杨为佑等人采用聚硅硼氮烷为原料,在气氛烧结炉内升温至1550℃,实现原位B掺杂SiC纳米线的制备,使SiC纳米线的高温电子发射稳定性得到了有效提高(国家发明专利,公开申请号:CN103928276A,专利名为:一种提高SiC场发射阴极材料高温电子发射稳定性的方法)。对于SiC的n型掺杂,主要的掺杂元素为N。Chen等人以N2为N源,在1500℃制备了N掺杂SiC纳米线,测得开启电场的范围为1.90~2.65V/μm(ChenS.L.,YingP.Z.,WangL.,WeiG.D.,ZhengJ.J.,GaoF.M.,Su,S.B.,YangW.Y..J.Mater.Chem.C2013,1:4779.)。但以NH3为氮源实现N掺杂SiC纳米线的制备及对其场发射性能改善的研究,未有文献报道。
本发明提出了一种工艺简单,且行之有效的以NH3为氮掺杂剂,在较低温度下实现对SiC纳米线的N掺杂。场发射性能测试结果表明,制得的N掺杂SiC纳米线具有更低的开启电场(0.8~1.05V/μm)和阈值电场(4~4.7V/μm),对促进其实际应用于场发射冷阴极的制造,具有重大意义。
发明内容
本发明的目的是提供一种提高SiC纳米线场发射性能的方法:N掺杂SiC纳米线的方法。
本发明公开的以NH3为氮掺杂剂实现提高场发射性能的N掺杂SiC纳米线的制备方法,包括以下步骤:
(1)将SiC纳米线置于管式炉中,对管式炉抽真空至100Pa,通入纯度为99.8%的氨气至炉内气压约为103kPa;
(2)在步骤(1)的基础上,启动加热装置,以10℃/min的升温速率将炉温升至700~900℃,保温160~220min,对SiC纳米线进行掺氮处理;
(3)在步骤(2)的基础上,关闭通气阀门,停止通入氨气,关闭电源,随炉冷却至室温,实现提高场发射性能的N掺杂SiC纳米线的制备;
(4)在超高真空场发射测试系统中,以步骤(3)得到的N掺杂SiC纳米线作为阴极,直径为3mm的铜棒为阳极,调整阴阳极之间的距离为500μm,场发射电流的大小通过调整负载电压的大小来调节,负载电压控制在0~3kV之间,超高真空场发射测试系统的真空度为1.0×10-6~2.0×10–6Pa。
本发明所公开的以NH3为氮掺杂剂对SiC纳米线进行掺N处理以提高其场发射性能的方法,与现有技术相比,其优越性在于:
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