[发明专利]一种薄膜晶体管、制造方法及其液晶显示器在审
申请号: | 201510880684.3 | 申请日: | 2015-12-03 |
公开(公告)号: | CN105355564A | 公开(公告)日: | 2016-02-24 |
发明(设计)人: | 杨济纶;刘谦 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L29/786;H01L29/10 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 薄膜晶体管 制造 方法 及其 液晶显示器 | ||
1.一种薄膜晶体管的制造方法,其特征在于,所述制造方法包括以下步骤:
形成一源极于一第一金属层,所述源极具有一斜面且电性耦接至一数据线;
形成一非晶硅层于所述源极的斜面;
形成一漏极于所述非晶硅层的上方,其中,所述漏极与所述非晶硅层相接触的表面平行于所述源极的斜面;
形成一第一钝化层于所述源极的上方以及所述漏极的上方;以及
形成一栅极于所述第一钝化层的上方,且所述栅极位于所述漏极的侧边,
其中,所述非晶硅层与所述第一金属层所在平面的夹角为锐角,且所述栅极与所述非晶硅层的接触面为尖角。
2.根据权利要求1所述的薄膜晶体管的制造方法,其特征在于,所述第一钝化层还形成于所述栅极与所述漏极之间。
3.根据权利要求1所述的薄膜晶体管的制造方法,其特征在于,所述薄膜晶体管的沟道长度由所述非晶硅层的厚度决定。
4.根据权利要求3所述的薄膜晶体管的制造方法,其特征在于,所述非晶硅层的膜厚控制精度为0.1纳米。
5.一种薄膜晶体管,其特征在于,所述薄膜晶体管包括:
一源极,形成于一第一金属层,所述源极具有一斜面且电性耦接至一数据线;
一非晶硅层,形成于所述源极的斜面;
一漏极,形成于所述非晶硅层的上方,其中,所述漏极与所述非晶硅层相接触的表面平行于所述源极的斜面;以及
一栅极,形成于一第一钝化层的上方,其中所述第一钝化层设置于所述源极的上方以及所述漏极的上方,所述栅极位于所述漏极的侧边,
其中,所述非晶硅层与所述第一金属层所在平面的夹角为锐角,且所述栅极与所述非晶硅层的接触面为尖角。
6.根据权利要求5所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述第一钝化层还形成于所述栅极与所述漏极之间。
7.根据权利要求5所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述薄膜晶体管的沟道长度由所述非晶硅层的厚度决定。
8.一种薄膜晶体管液晶显示器,其特征在于,该薄膜晶体管液晶显示器包括:
采用如权利要求1所述的制造方法所形成的一薄膜晶体管;
一平坦层,形成于所述薄膜晶体管的栅极的上方;
一图案化的第一导电层,形成于所述平坦层的上方;
一第二钝化层,形成于所述第一导电层的上方;以及
一图案化的第二导电层,形成于所述第二钝化层的上方。
9.根据权利要求8所述的薄膜晶体管液晶显示器,其特征在于,所述薄膜晶体管的沟道长度由所述非晶硅层的厚度决定。
10.根据权利要求8所述的薄膜晶体管液晶显示器,其特征在于,所述第一导电层和所述第二导电层均为氧化铟锡材质。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造