[发明专利]划片机查找同一街区特征点的方法、装置及划片机

权利要求书

1.一种划片机查找同一街区特征点的方法，其特征在于，包括：

在划片机采集到的待分割工件的图片中，存在多个与划片机中预先存储的标准模板数据相匹配的特征点时，获取所述待分割工件在一坐标系中X轴方向的第一分度值，以及Y轴方向的第二分度值；

获取多个所述特征点中每个特征点在所述坐标系中X轴上的第一坐标值，以及Y轴上的第二坐标值；

根据所述第一分度值、第二分度值、多个所述特征点的第一坐标值和第二坐标值，从多个所述特征点中查找出位于同一街区的特征点。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一坐标值和第二坐标值均大于零，

所述根据所述第一分度值、第二分度值、多个所述特征点的第一坐标值和第二坐标值，从多个所述特征点中查找出位于同一街区的特征点的步骤，包括：

将多个第一坐标值中最小的第一坐标值对应的特征点作为参照点；

计算多个特征点中除所述参照点之外的每个第一特征点的第一坐标值与所述参照点的第一坐标值的第一坐标差值，以及多个特征点中除所述参照点之外的每个第一特征点的第二坐标值与所述参照点的第二坐标值的第二坐标差值；

根据所述第一分度值、第二分度值、多个所述第一坐标差值和多个所述第二坐标差值，从多个所述特征点中查找出位于同一街区的特征点。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一分度值、第二分度值、多个所述第一坐标差值和多个所述第二坐标差值，从多个所述特征点中查找出位于同一街区的特征点的步骤，包括：

剔除多个所述第一坐标差值中大于所述第一分度值与第一预设值的和值的第一坐标差值对应的第一特征点，以及多个所述第二坐标差值中大于所述第二分度值与第二预设值的和值的第二坐标差值对应的第一特征点；

计算所述第一分度值与所述第二分度值的差值的第一绝对值；

判断所述第一绝对值是否在第一预设范围内；

当所述第一绝对值在所述第一预设范围外时，确定多个所述第一特征点中剩余的第一特征点和所述参照点为位于同一街区的特征点；

当所述第一绝对值在所述第一预设范围内时，确定多个所述第二坐标差值中最小的第二坐标差值对应的第一特征点和所述参照点为位于同一街区的特征点。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一分度值、第二分度值、多个所述第一坐标差值和多个所述第二坐标差值，从多个所述特征点中查找出位于同一街区的特征点的步骤，包括：

计算所述第一分度值与第三预设值的乘积；

剔除多个所述第一坐标差值中大于所述乘积与第四预设值的和值的第一坐标差值对应的第一特征点，以及多个所述第二坐标差值中大于所述第二分度值与第五预设值的和值的第二坐标差值对应的第一特征点；

计算所述乘积与所述第二分度值的差值的第二绝对值；

判断所述第二绝对值是否在第二预设范围内；

当所述第二绝对值在所述第二预设范围外时，确定多个所述第一特征点中剩余的第一特征点和所述参照点为位于同一街区的特征点；

当所述第二绝对值在所述第二预设范围内时，确定多个所述第二坐标差值中最小的第二坐标差值对应的第一特征点和所述参照点为位于同一街区的特征点。

5.一种划片机查找同一街区特征点的装置，其特征在于，包括：

第一获取模块，用于在划片机采集到的待分割工件的图片中，存在多个与划片机中预先存储的标准模板数据相匹配的特征点时，获取所述待分割工件在一坐标系中X轴方向的第一分度值，以及Y轴方向的第二分度值；

第二获取模块，用于获取多个所述特征点中每个特征点在所述坐标系中X轴上的第一坐标值，以及Y轴上的第二坐标值；

查找模块，用于根据所述第一分度值、第二分度值、多个所述特征点的第一坐标值和第二坐标值，从多个所述特征点中查找出位于同一街区的特征点。