[发明专利]一种用于硅外延生长的基片传送系统在审

专利信息
申请号: 201510912828.9 申请日: 2015-12-11
公开(公告)号: CN105552010A 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: 胡凡;陈特超;陈庆广;舒勇东 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十八研究所
主分类号: H01L21/677 分类号: H01L21/677
代理公司: 湖南兆弘专利事务所 43008 代理人: 周长清
地址: 410111 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 外延 生长 传送 系统
【权利要求书】:

1.一种用于硅外延生长的基片传送系统,其特征在于,包括进片盒(1)、大气机械手(2)、真空锁(5)、传送室(8)、真空机械手(9)及反应室(11),所述大气机械手(2)用来将进片盒(1)内的基片送入真空锁(5),所述真空锁(5)中设置有校准装置(6),所述校准装置(6)用来对基片位置进行修正;所述真空机械手(9)位于传送室(8)内,用于将基片从真空锁(5)送入反应室(11);所述反应室(11)内设置有石墨基座(12),所述石墨基座(12)的上表面均布放置基片的凹槽。

2.根据权利要求1所述的用于硅外延生长的基片传送系统,其特征在于,所述真空锁(5)与大气机械手(2)之间、所述真空锁(5)与传送室(8)以及传送室(8)与反应室(11)之间均通过真空阀门进行隔断。

3.根据权利要求1所述的用于硅外延生长的基片传送系统,其特征在于,所述真空机械手(9)的终端手指为真空吸盘,从基片上方进行吸附。

4.根据权利要求3所述的用于硅外延生长的基片传送系统,其特征在于,所述真空吸盘的为石英材质吸盘。

5.根据权利要求1或2或3或4所述的用于硅外延生长的基片传送系统,其特征在于,所述真空锁(5)和传送室(8)的上表面进一步安装透明玻璃。

6.根据权利要求5所述的用于硅外延生长的基片传送系统,其特征在于,所述透明玻璃处设置有用于检测基片的光学探头(13),如果检查到大气机械手(2)或真空机械手(9)没有取到基片,则大气机械手(2)或真空机械手(9)重新取片。

7.根据权利要求1或2或3或4所述的用于硅外延生长的基片传送系统,其特征在于,还包括一取片盒(3),所述进片盒(1)与取片盒(3)位于大气机械手(2)的两端。

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