[发明专利]一种用于硅外延生长的基片传送系统在审
申请号: | 201510912828.9 | 申请日: | 2015-12-11 |
公开(公告)号: | CN105552010A | 公开(公告)日: | 2016-05-04 |
发明(设计)人: | 胡凡;陈特超;陈庆广;舒勇东 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十八研究所 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677 |
代理公司: | 湖南兆弘专利事务所 43008 | 代理人: | 周长清 |
地址: | 410111 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 外延 生长 传送 系统 | ||
1.一种用于硅外延生长的基片传送系统,其特征在于,包括进片盒(1)、大气机械手(2)、真空锁(5)、传送室(8)、真空机械手(9)及反应室(11),所述大气机械手(2)用来将进片盒(1)内的基片送入真空锁(5),所述真空锁(5)中设置有校准装置(6),所述校准装置(6)用来对基片位置进行修正;所述真空机械手(9)位于传送室(8)内,用于将基片从真空锁(5)送入反应室(11);所述反应室(11)内设置有石墨基座(12),所述石墨基座(12)的上表面均布放置基片的凹槽。
2.根据权利要求1所述的用于硅外延生长的基片传送系统,其特征在于,所述真空锁(5)与大气机械手(2)之间、所述真空锁(5)与传送室(8)以及传送室(8)与反应室(11)之间均通过真空阀门进行隔断。
3.根据权利要求1所述的用于硅外延生长的基片传送系统,其特征在于,所述真空机械手(9)的终端手指为真空吸盘,从基片上方进行吸附。
4.根据权利要求3所述的用于硅外延生长的基片传送系统,其特征在于,所述真空吸盘的为石英材质吸盘。
5.根据权利要求1或2或3或4所述的用于硅外延生长的基片传送系统,其特征在于,所述真空锁(5)和传送室(8)的上表面进一步安装透明玻璃。
6.根据权利要求5所述的用于硅外延生长的基片传送系统,其特征在于,所述透明玻璃处设置有用于检测基片的光学探头(13),如果检查到大气机械手(2)或真空机械手(9)没有取到基片,则大气机械手(2)或真空机械手(9)重新取片。
7.根据权利要求1或2或3或4所述的用于硅外延生长的基片传送系统,其特征在于,还包括一取片盒(3),所述进片盒(1)与取片盒(3)位于大气机械手(2)的两端。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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