[发明专利]一种用于测量晶体分辨率的实验平台

权利要求书

1.一种用于测量晶体分辨率的实验平台，其特征在于，包括：

底座；

两个探测器，两个所述探测器分别可移动地安装在所述底座上，并且两个所述探测器的检测端面对面设置，所述探测器用于从晶体内获取光信号并将所述光信号转化为电信号；

晶体座，所述晶体座上端设有用于安放晶体的卡接部，所述晶体座安装在所述底座上，并且位于两个所述探测器之间；测量时，两个所述探测器移动至所述晶体座的两侧，两个所述探测器的检测端分别与所述晶体座上晶体的两端贴合，并且两个所述探测器和晶体三者中心对齐；

以及处理装置，所述处理装置分别与两个所述探测器电信号连接，用于获取两个所述探测器分别转化的两个所述电信号，并根据两个所述电信号计算出闪烁光位于晶体的位置；

还包括两个探测器座，所述探测器座可沿X轴移动地安装在所述底座上，所述探测器可沿Y轴移动地安装在所述探测器座上；

所述底座上沿X轴方向设有一条直线型导轨，所述导轨上设有两个滑台，两个所述探测器座分别固定在两个所述滑台上；

所述探测器座顶面中间设有放置所述探测器的凹槽，所述探测器座顶面两侧设有垂直向上延伸的螺钉安装部，所述探测器的两侧通过螺钉固定在所述探测器座的凹槽上，所述螺钉沿Y轴方向安装在所述螺钉安装部上，并且一端顶住所述探测器，两个所述螺钉用于调节所述探测器在Y轴方向的位置。

2.如权利要求1所述的用于测量晶体分辨率的实验平台，其特征在于，所述导轨为燕尾槽导轨，相对应的，所述滑台为燕尾槽滑台。

3.如权利要求1所述的用于测量晶体分辨率的实验平台，其特征在于，所述探测器的两侧分别通过两个所述螺钉固定。

4.如权利要求1或3所述的用于测量晶体分辨率的实验平台，其特征在于，所述卡接部为一侧凸起台阶型结构或者为凹槽。

5.如权利要求4所述的用于测量晶体分辨率的实验平台，其特征在于，所述晶体座底面的中间和两端中的至少一个位置上设有用于定位的凸块。

6.如权利要求5所述的用于测量晶体分辨率的实验平台，其特征在于，还包括垫片，所述垫片垫在所述卡接部与晶体之间，用于调节晶体的位置。