[发明专利]一种用于测量晶体分辨率的实验平台

说明书

本发明公开了一种用于测量晶体分辨率的实验平台，包括：底座；两个探测器，两个所述探测器分别可移动地安装在所述底座上，并且两个所述探测器的检测端面对面设置；晶体座，所述晶体座上端设有用于安放晶体的卡接部，所述晶体座安装在所述底座上，并且位于两个所述探测器之间；以及处理装置分与两个探测器电信号连接。由于两个探测器分别位于晶体座的两侧，使得两个探测器可同时对晶体座上的晶体进行探测，获取晶体上闪烁光的光信号并将其转化为电信号，处理装置获取两个探测器分别转化的电信号，根据两个电信号可计算出闪烁光子在晶体上的具体位置，再通过该具体位置得出的测量响应曲线更加接近实际响应曲线，即提高了测量的分辨率。

技术领域

本发明涉及PET成像技术领域，具体涉及一种用于测量晶体分辨率的实验平台。

背景技术

正电子发射断层扫描成像(PET)是一种核医学成像技术，它通过探测正电子核素衰变产生的射线成像，是一种无创伤，可以在分子水平上活体成像的技术。

晶体分辨图是一个显示PET探测器测量到的伽玛事件位置的二维直方图，由于所用晶体阵列由许多单个晶体组成，在晶体分辨图中每一个晶体单元对应一个点团，点团的大小和距离表明探测器是否可以清楚分辨每个晶体单元。

传统的使用单端读出的实验方法，相互作用深度(depth of interaction，DOI)的不确定效应是晶体分辨图质量提升和分辨效率的最大障碍。晶体与探测器的相对位置不能很好的控制，使其测量得到的晶体分辨图质量下降。

如图1所示，如果放射源在视野(field of view，FOV)中心，正负电子湮灭产生的2个γ光子垂直入射到晶体表面，探测器对这两个光子进行符合测量所得到的响应线(lineof response，LOR)是没有误差的，因此，在视野中心处(如a点)无DOI效应问题。如果放射源在远离FOV中心的点(如c点)，γ光子倾斜入射到晶体表面，由于γ光子具有较高能量，入射光子可能会穿过一个或几个晶体条而将能量沉积到晶体条内部，产生大量低能闪烁光子，PET探测器通过探测这些闪烁光子来确定LOR，现有技术中的单端测量，只能确定闪烁光子位于哪个两个晶体上，由产生闪烁光子的2个晶体条的端面中心点的连线(如图1中b点所在的直线)来确定LOR，这时所确定的LOR实际上是错误的。而正确的LOR应由γ光子最先入射的晶体表面位置决定(如图1中c点所在的直线)。故LOR定位的不准确，造成重建图像的分辨率降低。偏离FOV中心越远，DOI效应越严重。如果能得到γ光子在晶体条中的作用深度信息，就可以准确地确定LOR的位置，减少甚至消除DOI效应的影响，极大地提高PET分辨率的均匀性。

发明内容

本申请提供一种能够提高测量晶体分辨率的实验平台。

一种实施例中提供一种用于测量晶体分辨率的实验平台，包括：

底座；

两个探测器，两个探测器分别可移动地安装在底座上，并且两个探测器的检测端面对面设置，探测器用于从晶体内获取光信号并将光信号转化为电信号；

晶体座，晶体座上端设有用于安放晶体的卡接部，晶体座安装在底座上，并且位于两个探测器之间；测量时，两个探测器移动至晶体座的两侧，两个探测器的检测端分别与晶体座上晶体的两端贴合，并且两个探测器和晶体三者中心对齐；

以及处理装置，处理装置分与两个探测器电信号连接，用于获取两个探测器分别转化的两个电信号，并根据两个电信号计算出闪烁光位于晶体的位置。

进一步地，还包括两个探测器座，探测器座可沿X轴移动地安装在底座上，探测器可沿Y轴移动地安装在探测器座上。

进一步地，底座上沿X轴方向设有一条直线型导轨，导轨上设有两个滑台，两个探测器座分别固定在两个滑台上。

进一步地，导轨为燕尾槽导轨，相对应的，滑台为燕尾槽滑台。