[发明专利]探针及CNC加工探测方法在审
申请号: | 201510922733.5 | 申请日: | 2015-12-11 |
公开(公告)号: | CN105466384A | 公开(公告)日: | 2016-04-06 |
发明(设计)人: | 李留生 | 申请(专利权)人: | 广东长盈精密技术有限公司 |
主分类号: | G01B21/20 | 分类号: | G01B21/20;G05B19/401 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 何平 |
地址: | 523808 广东省东莞市*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 探针 cnc 加工 探测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及CNC加工探测技术,特别是涉及一种探针及CNC加工探测方 法。
背景技术
探针,是一种用于CNC加工探测的工具。探针安装在检测机台使用,在检 测机台的带动下触碰工件的轮廓,根据探针反馈给检测机台的位移信号,检测 机台计算出工件的轮廓参数,并与预先记录于检测机台内的理论参考值进行比 对,得出实际值和理论值的偏差值。根据该偏差值可以区分合格品和不良品, 并且该偏差值能够用于对工件的轮廓进行修正,以挽救不良品。
传统的探针,其探头一般为圆柱形或者球形,对于轮廓形状为异形结构, 如存在上倒角和下倒角的弧形轮廓的工件,因为上倒角和下倒角的倾斜面相反, 导致圆柱形的探头和球形的探头都难以找到同时匹配上倒角和下倒角的接触 点,导致检测机台计算出的轮廓参数值与实际值存在较大误差,测量精度下降。
发明内容
基于此,针对上述问题,提供一种高测量精度的探针。
一种探针,用于与检测机台连接以实现CNC加工探测,该探针包括:
主体,该主体为圆柱状设置,主体的一端设有连接部以与所述检测机台连 接;
探头,该探头为鼓形设置,探头包括上测试部、过渡部和下测试部;上测 试部为圆台状设置,过渡部为圆柱状设置,下测试部为倒圆台状设置;上测试 部的中轴线、过渡部的中轴线、下测试部的中轴线和主体的中轴线均重合;上 测试部的顶端与主体的另一端连接,上测试部的底端与过渡部的一端连接;过 渡部的另一端与下测试部的顶端连接。
上述探针,其探头为鼓形设置,该圆柱状设置的过渡部用于对工件的弧形 轮廓进行分中,分中后确定弧形轮廓的上倒角和下倒角区域。圆台状设置的上 测试部的母线处斜面可以与弧形轮廓的下倒角的倾斜方向匹配,使得探针可以 准确测量出下倒角的轮廓值。倒圆台状设置的下测试部的母线处斜面可以与弧 形轮廓的上倒角的倾斜方向匹配,使得探针可以准确测量出上倒角的轮廓值。 从而,提高探针的测量精度。
同时,本发明还提供一种CNC加工探测方法。
一种CNC加工探测方法,包括步骤:
提供一种探针,用于与检测机台连接以实现CNC加工探测,该探针包括: 主体,该主体为圆柱状设置,主体的一端设有连接部以与所述检测机台连接; 探头,为鼓形设置,该探头包括上测试部、过渡部和下测试部;上测试部为圆 台状设置,过渡部为圆柱状设置,下测试部为倒圆台状设置;上测试部的中轴 线、过渡部的中轴线、下测试部的中轴线和主体的中轴线均重合;上测试部的 顶端与主体的另一端连接,上测试部的底端与过渡部的一端连接;过渡部的另 一端与下测试部的顶端连接;
将探针与检测机台连接;
检测机台的XYZ轴移动,带动探针移动至工件的弧形轮廓的弧度最大值处, 通过探针的过渡部测量工件的弧形轮廓的中心偏移值,更新弧形轮廓的中心值, 进而确定该弧形轮廓的上倒角和下倒角的中心位置;
检测机台的XYZ轴移动,带动探针移动至工件的弧形轮廓的下倒角的位置, 通过探针的上测试部测量下倒角的轮廓值,检测机台记录下倒角的轮廓值,将 下倒角的轮廓值与预设的下倒角理论值比较,得出下倒角误差值并记录在检测 机台的系统变量表中;
检测机台的XYZ轴移动,带动探针移动至工件的弧形轮廓的上倒角的位置, 通过探针的下测试部测量上倒角的轮廓值,检测机台记录上倒角的轮廓值,将 上倒角的轮廓值与预设的上倒角理论值比较,得出上倒角误差值并记录在检测 机台的系统变量表中。
上述CNC加工探测方法,提供一种具有鼓形探头的探针,该圆柱状设置的 过渡部用于对工件的弧形轮廓进行分中,分中后确定弧形轮廓的上倒角和下倒 角的中心位置。圆台状设置的上测试部的母线处斜面可以与弧形轮廓的下倒角 的倾斜方向匹配,使得探针可以准确测量出下倒角的轮廓值。倒圆台状设置的 下测试部的母线处斜面可以与弧形轮廓的上倒角的倾斜方向匹配,使得探针可 以准确测量出上倒角的轮廓值。从而,提高探针的测量精度。
附图说明
图1为本发明的一种实施例的探针的示意图;
图2为图1另一视角的示意图;
图3为本发明的一种实施例的CNC加工探测方法的分中示意图;
图4为图3所示的CNC加工探测方法的下倒角测量示意图;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广东长盈精密技术有限公司,未经广东长盈精密技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510922733.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种地面沉降观测标保护装置
- 下一篇:位移测量装置