[发明专利]一种视准线变形测量方法

权利要求书

1.一种视准线变形测量方法，其特征在于，利用下式计算视准线第i个测点相 对于基准线的第k次周期观测偏离值δ_i(k)：

δi(k)=2in+1·Σj=1n(n-j+1)Δj(k)-Σr=1i-12(i-r)Δr(k);]]>

其中，n为视准线的测点个数；Δ_j(k)为第j个测点相对于以第j-1个测点 和第j+1个测点的连线为基准线的第k次周期观测局部偏离值；Δ_r(k)为第r个 测点相对于以第r-1个测点和第r+1个测点的连线为基准线的第k次周期观测 局部偏离值；r＝2,3,…,n+1；n+1为视准线的端点；

则所述第i个测点的变形值为第i个测点第k次周期观测偏离值与第i-1个 测点第1次周期观测偏离值之差。

2.根据权利要求1所述的视准线变形测量方法，其特征在于，视准线各测点 局部偏离值测量过程如下：以视准线的两个端点为基准点，分别记为A、B； 视准线的n个测点位于A、B之间，且依次编号为1、2、3、……、n-1、n； 将视准仪置于端点A，以第2个测点为照准点，测量第1个测点相对于基准 线1的局部偏离值Δ₁；然后将视准仪移至第1个测点，以第3个测点为照准 点，测量第2个测点相对于基准线2的局部偏差值Δ₂；……，依此类推，最 后以端点B为照准点，测量第n个测点相对于基准线n的局部偏差值Δ_n；所述 基准线1为端点A和第1个测点的连线；基准线2为第1个测点和第3个测 点的连线，……，依此类推，基准线n为第n-1个测点和端点B的连线。