[发明专利]一种视准线变形测量方法在审

专利信息
申请号: 201510932848.2 申请日: 2015-12-15
公开(公告)号: CN105571559A 公开(公告)日: 2016-05-11
发明(设计)人: 邱山鸣;廖佳;赫晓光 申请(专利权)人: 中国电建集团中南勘测设计研究院有限公司
主分类号: G01B21/32 分类号: G01B21/32
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 代理人: 卢宏;王娟
地址: 410014 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 准线 变形 测量方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种用于工程安全监测视准线测量方法,特别是一种视准线 变形测量方法。

背景技术

视准线法在大坝及其它工程建筑物变形观测中得到了广泛的应用,它具 有观测原理简单、投资少、实施简便等特点,并派生出了多种多样的观测方 法,如分段视准线、中点设站视准线等。但都是以全长基准线为照准基准, 即测量时必须在一端点安置仪器照准另一端点。

当基准线太长时,两端点距离远、目标模糊,照准精度太差,且后视点 与测点距离相差太远、望远镜调焦误差影响较大,加之大气折光对水平视线 影响是距离平方关系,无疑对观测成果有明显的影响。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是,针对上述现有技术的不足,提供一种视 准线变形测量方法。

为解决上述技术问题,本发明所采用的技术方案是:一种视准线变形测 量方法,利用下式计算视准线第i个测点相对于基准线的第k次周期观测偏离 值δi(k):

δi(k)=2in+1·Σj=1n(n-j+1)Δj(k)-Σr=1i-12(i-r)Δr(k);]]>

其中,n为视准线的测点个数;Δj(k)为第j个测点相对于以第j-1个测点 和第j+1个测点的连线为基准线的第k次周期观测局部偏离值;Δr(k)为第r个 测点相对于以第r-1个测点和第r+1个测点的连线为基准线的第k次周期观测 局部偏离值;r=2,3,…,n+1;n+1为视准线的端点;

则所述第i个测点的变形值为第i个测点第k次周期观测偏离值与第i个测 点第1次周期观测偏离值之差。

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