[发明专利]检查货物的方法、系统和装置有效

专利信息
申请号: 201510941150.7 申请日: 2015-12-16
公开(公告)号: CN106885813B 公开(公告)日: 2019-06-07
发明(设计)人: 李元景;赵自然;刘耀红;王启立;李强;顾建平 申请(专利权)人: 清华大学;同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01N23/10 分类号: G01N23/10
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王波波
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 检查 货物 方法 系统 装置
【权利要求书】:

1.一种检查货物的方法,包括步骤:

获得被检查货物的透射图像;

通过二值化操作对所述透射图像进行处理得到可疑区域;

提取所述可疑区域的局部纹理特征,并利用事先创建的模型对所述可疑区域的局部纹理特征进行分类,得到分类结果;

提取所述可疑区域的轮廓线形状特征,并将所述轮廓线形状特征与事先创建的标准模板进行比较,得到比较结果;以及

综合所述分类结果和所述比较结果,确定所述可疑区域中包含高原子序数物质。

2.如权利要求1所述的方法,还包括步骤:

获取所述可疑区域的等效原子序数信息;

其中所述综合步骤中综合所述分类结果、所述比较结果和等效原子序数信息,确定所述可疑区域中包含高原子序数物质。

3.如权利要求1所述的方法,其中对所述透射图像进行处理得到可疑区域的步骤包括:

对所述透射图像进行对比度增强;

对增强了对比度的透射图像进行多次二值化操作;

求出二值化后的透射图像的连通区域并确定连通区域的边界。

4.如权利要求1所述的方法,其中提取所述可疑区域的轮廓线形状特征的步骤包括:

使用边缘提取算法求得所述可疑区域的轮廓线,进而求出所述轮廓线的(θ,ρ)特征曲线,其中θ表示角度,ρ表示幅值。

5.如权利要求4所述的方法,其中将所述轮廓线形状特征与事先创建的标准模板进行比较的步骤包括:

计算所述轮廓线的(θ,ρ)特征曲线与标准模板之间的欧式距离和幅值一致性以及所述轮廓线的(θ,ρ)特征曲线的θ跳变值;

将所述欧式距离、所述幅值一致性和所述θ跳变值分别与阈值进行比较。

6.如权利要求5所述的方法,其中使用边缘特征提取算法获得所述可疑区域中嫌疑物体的轮廓线,再计算出轮廓线所围成区域的质心,然后以计算的质心为坐标原点,求出轮廓线与坐标原点间的(θ,ρ)特征曲线。

7.如权利要求1所述的方法,还包括步骤:

在所述透射图像中突出显示被认为是高原子序数物质的区域。

8.一种检查货物的系统,包括:

X射线扫描设备,获得被检查货物的透射图像;

数据处理装置,通过二值化操作对所述透射图像进行处理得到可疑区域,提取所述可疑区域的局部纹理特征,并利用事先创建的模型对所述可疑区域的局部纹理特征进行分类,得到分类结果,提取所述可疑区域的轮廓线形状特征,并将所述轮廓线形状特征与事先创建的标准模板进行比较,得到比较结果,以及综合所述分类结果和所述比较结果,确定所述可疑区域中包含高原子序数物质。

9.如权利要求8所述的系统,其中使用边缘提取算法求得所述可疑区域的轮廓线,进而求出所述轮廓线的(θ,ρ)特征曲线,其中θ表示角度,ρ表示幅值。

10.一种检查货物的装置,包括:

通过二值化操作对被检查货物的透射图像进行处理得到可疑区域的装置;

提取所述可疑区域的局部纹理特征,并利用事先创建的模型对所述可疑区域的局部纹理特征进行分类,得到分类结果的装置;

提取所述可疑区域的轮廓线形状特征,并将所述轮廓线形状特征与事先创建的标准模板进行比较,得到比较结果的装置;以及

综合所述分类结果和所述比较结果,确定所述可疑区域中包含高原子序数物质的装置。

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