[发明专利]一种提高DC/DC升压变换器转换效率的方法在审
申请号: | 201510961076.5 | 申请日: | 2015-12-21 |
公开(公告)号: | CN105553262A | 公开(公告)日: | 2016-05-04 |
发明(设计)人: | 黄胜明;黄鑫;冯多力 | 申请(专利权)人: | 苏州瑞铬优电子科技有限公司 |
主分类号: | H02M3/158 | 分类号: | H02M3/158 |
代理公司: | 无锡中瑞知识产权代理有限公司 32259 | 代理人: | 张玉平 |
地址: | 215612 江苏省苏州市张家港市凤凰*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 dc 升压 变换器 转换 效率 方法 | ||
技术领域
本发明涉及到一种DC/DC升压变换器,尤其涉及到一种提高DC/DC升压 变换器转换效率的方法。
背景技术
众所周知,由于具有较高的转换效率和较好的可靠性,DC/DC变换器广泛 应用于消费类电子产品和工业产品中。同步整流DC/DC变换器是电源管理电路 应用的主要拓扑。在相同面积的情况下,P沟道MOSFET的导通电阻是N沟道 MOSFET的2.5倍,为了提高电源管理电路的转换效率,开关和同步整流器件 通常都应用N沟道器件的拓扑越来越受欢迎,特别是在电压高于12V的应用领 域。图1所示是一个同步整流BOOST升压拓扑,下部的LS-LDMOS是开关器 件,上部的HS-LDMOS是同步整流器件、且都是N型横向DMOS器件。由于 任何时刻上、下两个器件不能同时导通,因此,它们的开关驱动信号高电平之 间要留有死区(Dead-Time)。当LS-LDMOS导通时,电感电流线性增加,当 LS-LDMOS截止时,在死区里电感电流流经HS-LDMOS的体二极管Db,到输 出电容Cout上,提供负载电流。死区过后,HS-LDMOS导通,起到同步整流以 及减小Db上功耗的作用。与此同时,电感电流开始下降。缩短死区时间有利于 提高转换效率。利用典型的BCD工艺制造的HS-LDMOS器件的剖面结构如图 2所示,在其版图设计上,用于HS-LDMOS源极隔离用的N型深阱(Deep-NWell) 通常和其漏极D相连接,如图2(a)所示。这样,从P-Body的P+接触区、深 阱接触区N+到P型衬底(P-Sub)形成了一个寄生的PNP双极晶体管。在上述 提及的死区时间里,由于电流从HS-LDMOS的源极S经Db流向其漏极D,即 S极的电位比D极的电位高出一个二极管的正向压降的电压,导致寄生PNP处 于导通状态,从HS-LDMOS的源极向P型衬底注入电流,即此时器件的漏电流 增加,造成能量损失。如果把N型深阱和HS-LDMOS的源极相连接,如图2(b) 所示,在死区寄生PNP不会导通。但当LS-LDMOS处于导通、HS-LDMOS处 于截止状态时,HS-LDMOS的源极和N型深阱被下拉至接近于地电位,如果该 器件周围有高于PN结正向压降的P型区域存在,会导致其它可能到该N型深 阱的寄生电流通路,特别是可能会诱发潜在的闩锁效应(Latch-up)。因此,对 于这种连接,周围的版图设计需要至少三个P+/N+/P+环进行隔离,防止可能的 Latch-up。这样一来,版图面积将会增加。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:提供一种不会发生闩锁效应的提高DC/DC 升压变换器转换效率的方法。
为解决上述技术问题,本发明所采用的技术方案为:一种提高DC/DC升压 变换器转换效率的方法,其步骤为:在DC/DC变换升压拓扑结构中的上端MOS 器件采用N型的MOS或LDMOS器件,并将该N型的MOS或LDMOS器件动 态隔离。
作为一种优选方案,在所述的一种提高DC/DC升压变换器转换效率的方法 中,在DC/DC变换升压拓扑结构中的上端MOS器件采用N型LDMOS器件。
作为一种优选方案,在所述的一种提高DC/DC升压变换器转换效率的方法 中,所述的上端MOS器件动态隔离的具体方法为:在上端MOS器件的体区到 左侧的深阱欧姆连接区N+之间增加一个N型LDMOS器件、作为上端辅助MOS 器件,上端辅助MOS器件的源极与上端MOS的源极相连,上端辅助MOS器 件的栅极与上端MOS的栅极相连;上端辅助MOS器件的漏极与N型深阱的欧 姆连接区N+相连接,从而在这上端MOS器件的体区与上端辅助MOS器件的漏 极之间形成寄生二极管,在上端辅助MOS器件的漏极的右侧N型外延层里紧靠 N型深阱N+连接区处设置一个P+区,使该P+区和右侧的深阱区的N+接触区 组成一个高压二极管,所述上端MOS器件的体区与漏极之间形成一个体区二极 管。
本发明的有益效果是:本发明除了原有的上端MOS器件(由N沟道MOS 器件或者N沟道横向双扩散金属氧化物半导体器件即N型LDMOS)外,又增 加一个面积很小的上端辅助MOS器件(由N沟道MOS器件或者N沟道横向双 扩散金属氧化物半导体器件即N型LDMOS构成),形成N型深阱非固定连接 结构,从而有效地避免了闩锁效应的发生,并提高了DC/DC升压变换器的转换 效率。
附图说明
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州瑞铬优电子科技有限公司,未经苏州瑞铬优电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510961076.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。