[发明专利]利用相位差异相位恢复技术检测大口径望远镜面形的方法在审

专利信息
申请号: 201510962203.3 申请日: 2015-12-21
公开(公告)号: CN105588519A 公开(公告)日: 2016-05-18
发明(设计)人: 马鑫雪;王建立;赵金宇;王斌 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 张伟
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 利用 相位 差异 恢复 技术 检测 口径 望远镜 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及大口径望远镜镜面面形检测的应用领域,具体涉及一种利用相位差异 相位恢复技术检测大口径望远镜面形的方法。

背景技术

光学系统的波相差是衡量光学系统成像质量的一个重要指标,传统的基于光瞳面 的干涉检验可以直接检测出该参数指标。但是,干涉检验需要参考平面镜,且需要干涉仪专 用设备,这对于现场使用条件下的检验是不现实的。另外,大口径光学系统通常焦距长,采 用二次成像方式,二次成像系统一般难以用干涉检测方法。对于大口径望远镜,没有直接的 传函测量仪,传统的小口径望远镜直接干涉测量检测波前也因没有大口径参考平面镜而不 能被采用,如何进行大口径的光学装调和检测,我国还没有成熟的技术。

发明内容

本发明为了解决大口径望远镜镜面面形检测的问题,提供了一种利用相位差异相 位恢复技术检测大口径望远镜面形的方法。

为了解决上述技术问题,本发明的技术方案具体如下:

一种利用相位差异相位恢复技术检测大口径望远镜面形的方法,包括以下步骤:

步骤1:用一位变量表示二位变量,光学系统的成像关系表示:

i(x)=h(x)*d(x)*o(x)+n(x)(1)

其中,i(x)是像的光强分布;h(x)代表光学系统的点扩散函数;d(x)代表探测器的 点扩散函数;o(x)代表物体的光强分布;n(x)表示噪声;*表示卷积运算;

对式(1)两边取傅里叶变换得:

I(f)=H(f)D(f)O(f)+N(f)(2)

其中,I(f)代表像的频谱;H(f)表示光学传递函数;D(f)代表探测器的传递函数;O (f)代表物体的频谱;N(f)代表噪声频谱;

步骤2:把波像差展开成级数,然后用光瞳函数的自相关运算求传递函数,改变 Zernike系数,得不同的传递函数计算结果,与测得的点扩散函数的傅里叶变换得到的传递 函数结果比较,求其均方差最小的结果作为解;

光瞳函数为:

P(x',y')=∫∫h(x,y)exp[-2πi(x'x+y'y)]dxdy(3)

其中,脉冲响应函数h(x,y)和光瞳函数P(x',y')之间存在傅里叶变换关系;

将式(3)简写为:

P(x')=A(x')exp[ikW(x')](4)

所以,光瞳函数可表示为:

P(x',y')=A(x',y')exp[ikW(x',y')](5)

其中,A(x',y')表示光瞳函数的振幅部分,通光孔内取1,通光孔外取0,k=2π/λ,W (x',y')表示光学系统的波像差;

波像差W展开成多项式的形式为:

W(x)=Σk=1Nckφk(x)---(6)]]>

光学传递函数H(f)是光瞳函数的自相关

H(f)=∫P*(x')P(f+x')dx'=∫A(x')A(f+x')exp[ikW(f+x')-ikW(x')]dx'(7)

步骤3:当求出探测到的像的频谱I(f)和给定多项式展开系数ck后推算出来的频 谱H(f)D(f)O(f)之间的方差最小的多项式系数解ck,即评价值E为

E=∫|I(f)-H(f)D(f)O(f)|2df(8)

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510962203.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top